质谱选择离子软着陆准备好定义的表面原位二次离子质谱和红外光谱

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June 16th, 2014

DOI :

10.3791/51344-v

June 16th, 2014


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Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions

3:07

Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces

4:17

Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases

5:59

Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing

7:28

Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy

9:39

Conclusion

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