用于ToF-SIMS和XPS分析的纳米颗粒的制备

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September 13th, 2020

DOI :

10.3791/61758-v

September 13th, 2020


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163 XPS ToF SIMS

此视频中的章节

0:05

Introduction

0:45

Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition

2:24

Nanoparticle Powder Deposition

3:15

Nanoparticle Suspension Cryofixation

4:06

Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis

5:41

Conclusion

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