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Contrôle de champ électrique des États électroniques dans WS2 nanodispositifs par électrolyte Gate

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10:36 min

April 12th, 2018

DOI :

10.3791/56862-v

April 12th, 2018


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Chapitres dans cette vidéo

0:04

Title

0:38

Dispersion of WS2 Nanotubes (NTs) on a Si/SiO2 Substrate

1:35

Application of WS2 Flakes to a Si/SiO2 Substrate with the Tape Method

2:28

Device Fabrication by Electron Beam Lithography

5:59

Electrode Deposition

7:17

Device Completion and Transport Measurements

8:31

Results: Transistor Operations of WS2 Nanotube and Flake Devices

9:56

Conclusion

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