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Amélioration des cartes de densité en supprimant la majorité des particules dans les piles finales de microscopie électronique cryogénique à particule unique

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06:41 min

May 10th, 2024

DOI :

10.3791/66617-v

May 10th, 2024


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Mots cl s Microscopie lectronique cryog nique

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Introduction

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Configuring and Utilizing CryoSieve for Enhanced Particle Sieving in Cryo‐Electron Microscopy

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