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Enhancing Density Maps by removing the majority of particles in single particle cryyogenic electron microscopy final stacks(단일 입자 극저온 전자 현미경 최종 스택에서 대부분의 입자를 제거하여 밀도 맵 향상)

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06:41 min

May 10th, 2024

DOI :

10.3791/66617-v

May 10th, 2024


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Cryo EM

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Introduction

1:43

Configuring and Utilizing CryoSieve for Enhanced Particle Sieving in Cryo‐Electron Microscopy

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