ВС электронные решена НС сканирующий туннельный микроскопии: Содействие исследования динамики одного легирующего заряда

9.3K Views

11:33 min

January 19th, 2018

DOI :

10.3791/56861-v

January 19th, 2018


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

131

Главы в этом видео

0:05

Title

0:52

Initial Setup of Microscope and Experiments

2:05

Preparation of the H-Si(100)-(2x1) Reconstruction

4:20

Assessing the Quality of the Pump-probe Pulses at the Tunnel Junction

6:32

Experiment 1: Time-resolved Scanning Tunneling Spectroscopy

7:55

Experiment 2: Time-resolved STM Measurements of Relaxation Dynamics

8:47

Experiment 3: Time-resolved STM Measurements of Excitation Dynamics

9:27

Results: Investigation of Single Dopant Change Dynamics

10:43

Conclusion

Похожие видео

article

13:29

Уборочная солнечной энергии с помощью Charge-Разделение нанокристаллы и их твердых

14.0K Views

article

10:53

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии

12.9K Views

article

10:03

Подготовка Электрогидродинамические Мосты от полярных диэлектрических жидкостей

26.0K Views

article

11:42

Изготовление ворот-перестраиваемых графена устройств для сканирующей туннельной микроскопии исследований с кулоновских примесей

15.3K Views

article

09:41

Излучение спектроскопические пограничного слоя Исследование во время АБЛЯЦИОННОГО испытания материалов в плазмотроне

12.2K Views

article

10:42

В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)

9.1K Views

article

13:58

Зондирование C

11.6K Views

article

10:29

Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа

12.6K Views

article

08:10

Точность Фрезерование углеродная нанотрубка лесов Использование низкого давления Сканирование электронной микроскопии

7.4K Views

article

07:51

Измерения почвенного углерода путем анализа нейтронного гамма в статических и режимы сканирования

7.2K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены