Войдите в систему

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии

Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.

13.0K Views

•

10:53 min

•

July 30th, 2013

DOI :

10.3791/50676-v

July 30th, 2013

•

Kathleen A. Walsh¹, Megan E. Romanowich¹, Morewell Gasseller¹^,², Irma Kuljanishvili¹^,³, Raymond Ashoori⁴, Stuart Tessmer¹

¹Department of Physics and Astronomy, Michigan State University, ²Department of Chemistry & Biochemistry/Physics, Mercyhurst University, ³Department of Physics, Saint Louis University, ⁴Department of Physics, Massachusetts Institute of Technology

Резюме

Смотреть дополнительные видео

Главы в этом видео

0:05

Title

1:57

Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit

6:37

Capacitance Mode Measurements

8:05

Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors

10:17

Conclusion

Похожие видео

08:53

Фотоэмиссии с угловым разрешением спектроскопии при сверхнизких температурах

17.5K Views

09:23

Квантовая государственный инженерно Света с непрерывной волны параметрических генераторов

14.4K Views

09:48

Исследуя одну молекулу адгезии методом атомно-силовой микроскопии

10.2K Views

11:44

Поверхность Enhanced спектроскопии комбинационного рассеяния света обнаружения биомолекул Использование EBL, изготовленных наноструктурированных Субстраты

20.1K Views