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接触模式原子力显微镜作为形态观察和细菌细胞损伤分析的快速技术

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05:34 min

June 30th, 2023

DOI :

10.3791/64823-v

June 30th, 2023


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0:04

Introduction

0:31

Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements

3:10

Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence

4:46

Conclusion

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