形態学的観察および細菌細胞損傷解析のための迅速技術としての接触モード原子間力顕微鏡法

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June 30th, 2023

DOI :

10.3791/64823-v

June 30th, 2023


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Introduction

0:31

Bacterial Sample Preparation and AFM Measurements

3:10

Results: Atomic Force Contact Microscopic Analysis of Bacterial Cultures Under Nanoparticle Influence

4:46

Conclusion

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