Sub-Nanometer Auflösung Belichtung mit Amplituden-Modulation der Rasterkraftmikroskopie in Liquid

16.5K Views

10:25 min

December 20th, 2016

DOI :

10.3791/54924-v

December 20th, 2016


Transkript

Weitere Videos entdecken

Technik

Kapitel in diesem Video

0:05

Title

0:59

Equipment and Substrate Preparation

2:39

Cantilever and Tip Preparation

3:22

Set-up of AFM Cell and Cantilever Calibration

4:27

Approach and Initial Check of the Sample

6:31

High-resolution Imaging

8:09

Results: Sub-nanometer Resolution Imaging of Soft and Stiff Samples

9:18

Conclusion

Ähnliche Videos

article

11:34

High-Auflösung, High-Speed-, Three-dimensional Imaging mit Digital-Video-Streifenprojektionstechnik

15.4K Views

article

14:13

Atomic Force Microscopy von Red-Light Photorezeptoren Mit Peakforce Quantitative Nanomechanische Eigenschaftenzuordnung

11.6K Views

article

09:48

Untersuchung von Einzelmolekül Haftung durch Rasterkraftspektroskopie

10.2K Views

article

10:18

Dynamische Pore-Skala Reservoir-Zustand Abbildung von Reaktions in Karbonate mit Synchrotronstrahlung Schnelle Tomography

8.4K Views

article

05:33

Lichtinduzierte In situ Transmissionselektronenmikroskopie zur Beobachtung der Wechselwirkung zwischen flüssiger und weicher Materie

2.0K Views

article

12:18

Kolokalisierung der Kelvin-Sondenkraftmikroskopie mit anderen Mikroskopien und Spektroskopien: Ausgewählte Anwendungen in der Korrosionscharakterisierung von Legierungen

2.3K Views

article

07:42

Optimierung der Auflösung und Empfindlichkeit der Magnetkraftmikroskopie zur Visualisierung nanoskaliger magnetischer Domänen

2.5K Views

article

08:58

Rasterkraftmikroskopie Cantilever-basierte Nanoindentation: Messungen mechanischer Eigenschaften auf der Nanoskala in Luft und Flüssigkeit

2.6K Views

article

01:24

Autor im Rampenlicht: Einführung in die Rasterkraftmikroskopie mit aktiven Sonden mit quattro-parallelen Cantilever-Arrays

1.0K Views

article

01:24

Autor im Rampenlicht: Einführung in die Rasterkraftmikroskopie mit aktiven Sonden mit quattro-parallelen Cantilever-Arrays

1.0K Views

JoVE Logo

Datenschutz

Nutzungsbedingungen

Richtlinien

Forschung

Lehre

ÜBER JoVE

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. Alle Rechte vorbehalten