מקור: פייסל אלמגיר, בית הספר למדעי החומרים וההנדסה, המכון הטכנולוגי של ג'ורג'יה, אטלנטה, GA

הדמיה של מבנים מיקרוסקופיים של חומרים מוצקים, וניתוח הרכיבים המבניים שמצלמים, ידועה כחומרוגרפיה. לעתים קרובות, ברצוננו לכמת את המבנה התלת מימדי הפנימי של חומר באמצעות התכונות המבניות בלבד המוכחות על ידי משטח דו מימדי חשוף. בעוד ששיטות טומוגרפיות מבוססות רנטגן יכולות לחשוף מיקרו-מבנה קבור (לדוגמה, סריקות ה- CT שאנו מכירים בהקשר רפואי), הגישה לטכניקות אלה מוגבלת למדי בשל עלות המכשור הנלווה. חומרן מבוסס מיקרוסקופ אופטי מספק חלופה הרבה יותר נגישה ושגרתית לטומוגרפיה של קרני רנטגן.

בחלק הראשון של סדרת החומרוגרפיה, כיסינו את העקרונות הבסיסיים שמאחורי הכנת המדגם. בחלק 2 נעבור על העקרונות שמאחורי ניתוח התמונה, כולל השיטות הסטטיסטיות שמאפשרות לנו למדוד כמותית תכונות מיקרו-מבניות ולתרגם מידע מחתך דו מימדי למבנה התלת מימדי של דגימת חומר.