גשוש C
11.6K Views
•
13:58 min
•
September 28th, 2016
DOI :
September 28th, 2016
•Explore More Videos
Chapters in this video
0:05
Title
1:21
Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate
2:57
Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate
5:07
Measurements of Surface Magnetism
6:17
Measurements of Nanomechanical Properties by AFM
6:49
Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation
11:05
Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation
12:46
Conclusion
Related Videos
חיטוט ומיפוי משטחי אלקטרודה דלק תאי תחמוצת מוצקות
15.8K Views
ספקטרוסקופיה קיבוליות חד אלקטרונים סורקות-בדיקה
13.0K Views
המצאה של השער-מתכונן התקני גראפן לסריקה מיקרוסקופית מנהור מחקרים עם זיהומים קולון
15.3K Views
ב ניתוח עומק של נוריות ידי שילוב של טומוגרפיה ממוחשבת X-ray (CT) ואור מיקרוסקופית (LM) בקורלציה עם מיקרוסקופ אלקטרוני סורק (SEM)
9.1K Views
יד מבוקרת מניפולציה של יחיד מולקולות באמצעות סריקת הבדיקה במיקרוסקופ עם ממשק מציאות 3D Virtual
8.9K Views
לימוד תהליכים דינמיים של אובייקטים בגודל ננו בנוזל באמצעות מיקרוסקופי אלקטרוני סריקת הילוכים
12.6K Views
כרסום Precision של יערות Nanotube הפחמן באמצעות סריקה בלחץ נמוך למיקרוסקופיה אלקטרונית
7.4K Views
מדידות של פחמן בקרקע על ידי ניתוח ניוטרון-גמא חשמל סטטי וסריקה מצבי
7.2K Views
כל-אלקטרונית ננו-נפתרה סריקה מינהור מיקרוסקופיה: הקלת החקירה של דינמיקה תשלום יחיד Dopant
9.4K Views
פיתוח תאים סולריים ביצועים גבוהים פער/סי Heterojunction
7.4K Views
Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. All rights reserved