C problama
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
11.7K Views
•
13:58 min
•
September 28th, 2016
DOI :
September 28th, 2016
•Bu videodaki bölümler
0:05
Title
1:21
Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate
2:57
Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate
5:07
Measurements of Surface Magnetism
6:17
Measurements of Nanomechanical Properties by AFM
6:49
Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation
11:05
Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation
12:46
Conclusion
İlgili Videolar
15:08
Katı Oksit Yakıt Hücreleri Elektrot Yüzeyler Sondalama ve Haritalama
15.9K Views
10:53
Tarama-prob Tek elektron Kapasite Spektroskopisi
13.0K Views
11:14
Bir Tarama Elektron Mikroskobu tarafından Yarıiletken Malzemelerin Genişletilmiş Kusur Kapsamlı Karakterizasyonu
13.7K Views
09:52
Atomik kuvvet mikroskobu Imaging'i kullanma oluşturarlar dinamikleri ve yapısını sondalama
11.6K Views
12:58
Bireysel Protein Agregalarının Kızılötesi Nanospektroskopi ve Atomik Kuvvet Mikroskobu ile Karakterizeleştirilmesi
9.7K Views
08:31
Hibrit Atomik Kuvvet Mikroskobu-Taramalı Elektrokimyasal Mikroskop (AFM-SECM) Kullanarak Nanomalzemelerin Yüzey Elektrokimyasal Aktivitesinin Yoklandırılması
6.8K Views
08:18
Çözelti ve Yüzey Kimyası Kombinasyonu ile Sentezlenen Gözenekli Nanografenlerin Mikroskobik Görüntülenmesi
1.6K Views
08:18
Çözelti ve Yüzey Kimyası Kombinasyonu ile Sentezlenen Gözenekli Nanografenlerin Mikroskobik Görüntülenmesi
1.6K Views
12:18
Kelvin Probu Kuvvet Mikroskobunun Diğer Mikroskoplar ve Spektroskopilerle Birlikte Lokalize Edilmesi: Alaşımların Korozyon Karakterizasyonunda Seçilmiş Uygulamalar
2.5K Views
05:04
Yüksek Verimli Büyük Ölçekli Numune Denetimi için Quattro-Paralel Konsol Dizileri ile Aktif Prob Atomik Kuvvet Mikroskobu
1.4K Views
JoVE Hakkında
Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır