JoVE Logo

Войдите в систему

Зондирование C

11.7K Views

13:58 min

September 28th, 2016

DOI :

10.3791/54235-v

September 28th, 2016


Смотреть дополнительные видео

115

Главы в этом видео

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

Похожие видео

article

15:08

Исследование и картирование поверхности электродов в ТОТЭ

15.9K Views

article

10:53

Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии

13.0K Views

article

11:14

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе

13.6K Views

article

09:52

Проверка структуры и динамики нуклеосом с помощью атомно-силовой микроскопии изображений

11.6K Views

article

12:58

Характеристика индивидуальных белковых агрегатов с помощью инфракрасной наноспектроскопии и микроскопии атомной силы

9.7K Views

article

08:31

Зондирование поверхностной электрохимической активности наноматериалов с помощью гибридного атомно-силового микроскопа-сканирующего электрохимического микроскопа (AFM-SECM)

6.8K Views

article

08:18

Микроскопическая визуализация пористых нанографенов, синтезированных с помощью комбинации раствора и поверхностной химии

1.6K Views

article

08:18

Микроскопическая визуализация пористых нанографенов, синтезированных с помощью комбинации раствора и поверхностной химии

1.6K Views

article

12:18

Совместная локализация зондовой силовой микроскопии Кельвина с другими микроскопиями и спектроскопиями: избранные применения в коррозионной характеристике сплавов

2.5K Views

article

05:04

Активная зондовая атомно-силовая микроскопия с кватропараллельными кантилевеверными решетками для высокопроизводительного крупномасштабного контроля образцов

1.4K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены