Зондирование C
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
11.6K Views
•
13:58 min
•
September 28th, 2016
DOI :
September 28th, 2016
•Главы в этом видео
0:05
Title
1:21
Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate
2:57
Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate
5:07
Measurements of Surface Magnetism
6:17
Measurements of Nanomechanical Properties by AFM
6:49
Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation
11:05
Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation
12:46
Conclusion
Похожие видео
15:08
Исследование и картирование поверхности электродов в ТОТЭ
15.9K Views
10:53
Сканирующего зонда Одноэлектронные емкостной спектроскопии
13.0K Views
11:42
Изготовление ворот-перестраиваемых графена устройств для сканирующей туннельной микроскопии исследований с кулоновских примесей
15.4K Views
10:42
В Depth Анализы светодиодов с помощью комбинации рентгеновской компьютерной томографии (КТ) и световой микроскопии (LM) коррелируют с сканирующей электронной микроскопии (SEM)
9.2K Views
11:00
Ручным управлением Манипуляции одиночных молекул с помощью сканирующего зондового микроскопа с 3D-интерфейсом виртуальной реальности
8.9K Views
10:29
Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа
12.6K Views
08:10
Точность Фрезерование углеродная нанотрубка лесов Использование низкого давления Сканирование электронной микроскопии
7.4K Views
07:51
Измерения почвенного углерода путем анализа нейтронного гамма в статических и режимы сканирования
7.2K Views
11:33
ВС электронные решена НС сканирующий туннельный микроскопии: Содействие исследования динамики одного легирующего заряда
9.4K Views
10:31
Разработка высокопроизводительных разрыв/Si гетеропереход солнечных батарей
7.4K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены