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シングルGaNナノ細線デバイスのための接触界面の解析

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11:13 min

November 15th, 2013

DOI :

10.3791/50738-v

November 15th, 2013


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81 GaN

この動画の章

0:05

Title

1:32

Wafer Preparation

3:14

Photolithography of Contact Pattern

6:29

Contact Metal Lift-off and Annealing

7:38

Ni/Au Film Removal

9:04

Results: Annealed Ni/Au Films Removed with Carbon Tape

10:45

Conclusion

4:55

Electron-beam Evaporation of Contact Metals

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