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集束イオンビームを用いて低温電子顕微鏡標本の準備

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10:54 min

July 26th, 2014

DOI :

10.3791/51463-v

July 26th, 2014


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89 TEM FIB

この動画の章

0:05

Title

1:25

Sample Freezing

3:21

Ion Milling

5:56

Cryo Transfer to TEM

8:54

Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy

10:20

Conclusion

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