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二次イオン質量分析を用いた分離不純物の3D深さプロファイル再構成(英語)

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07:10 min

April 29th, 2020

DOI :

10.3791/61065-v

April 29th, 2020


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3D SIMS 3D SEM

この動画の章

0:00

Introduction

0:57

Defect Selective Etching

2:09

Scanning Electron Microscopy

2:50

Secondary Ion Mass Spectrometry

5:34

Results: Oxygen Counts in a Cuboid

6:29

Conclusion

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