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使用二次离子质谱法重建分离杂质的 3D 深度剖面

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07:10 min

April 29th, 2020

DOI :

10.3791/61065-v

April 29th, 2020


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3D SIMS 3D SEM

此视频中的章节

0:00

Introduction

0:57

Defect Selective Etching

2:09

Scanning Electron Microscopy

2:50

Secondary Ion Mass Spectrometry

5:34

Results: Oxygen Counts in a Cuboid

6:29

Conclusion

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