스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학

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July 30th, 2013

DOI :

10.3791/50676-v

July 30th, 2013


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Title

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Microscope Setup, Preparation, and Mounting of the High Electron Mobility Transistor Circuit

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Capacitance Mode Measurements

8:05

Results: Scanning Charge Accumulation and Capacitance-voltage Spectroscopy of Doped Semiconductors

10:17

Conclusion

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