В Ситу Время-зависимой пробой диэлектрика в просвечивающий электронный микроскоп: возможность понять механизм Отказ в микроэлектронных устройств
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
8.7K Views
•
09:26 min
•
June 26th, 2015
DOI :
June 26th, 2015
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
1:35
Sample Preparation
2:30
Focused Ion Beam Thinning in a Scanning Electron Microscope
3:53
Sample Transfer to the Transmission Electron Microscope
4:29
Establishing the Electrical Connection
5:19
In Situ Time-dependent Dielectric Breakdown Experiment
6:50
Computed Tomography
7:22
Results: Failure Mechanism in Microelectronic Devices
8:34
Conclusion
Похожие видео
07:37
Выявление динамических процессов в жидкостях материалов с использованием жидкого сотовых просвечивающей электронной микроскопии
12.6K Views
08:11
Анализ отказов батарей с использованием синхротронного основе жесткого рентгеновского микротомография
8.8K Views
08:46
С использованием синхротронного излучения микротомография Расследования многомасштабном Трехмерные Микроэлектронные пакеты
10.0K Views
11:14
Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе
13.6K Views
10:29
Изучение динамических процессов наноразмерных объектов в жидкости с помощью сканирующего просвечивающего электронного микроскопа
12.6K Views
07:15
Новый метод для
9.1K Views
11:33
ВС электронные решена НС сканирующий туннельный микроскопии: Содействие исследования динамики одного легирующего заряда
9.4K Views
09:49
В Situ передачи электронной микроскопии с смещения и изготовление асимметричных перекладин на основе смешанных фаз -VOх
4.0K Views
08:31
Sample Preparation and Experimental Design for In Situ Multi-Beam Transmission Electron Microscopy Irradiation Experiments
1.6K Views
07:24
Количественный атомно-сайт анализ функциональных допантов / точечных дефектов в кристаллических материалов по электрон-канализации Расширенный микроанализ
5.5K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены