Электрохимическое травление и характеристика точек Sharp поля излучения для ионизацией электронным ударом
Please note that all translations are automatically generated. Click here for the English version.
9.5K Views
•
06:58 min
•
July 12th, 2016
DOI :
July 12th, 2016
•Смотреть дополнительные видео
Главы в этом видео
0:05
Title
0:45
Material Preparations
1:45
Apparatus Preparations, Etching and Collecting
3:29
Field Emission Point Testing
5:27
Results: Etching through FEP Testing
6:32
Conclusion
Похожие видео
07:50
Электрон Ченнелинг Контрастность изображений для быстрого III-V гетероэпитаксиального Характеристика
11.0K Views
12:35
Атомно Прослеживаемый созданию наноструктур
8.7K Views
11:14
Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе
13.8K Views
07:15
Новый метод для
9.2K Views
08:14
Атом зонд томографии Анализ раскрытых минеральных фаз
7.3K Views
08:32
Электрохимическое грубое промывка тонкопленочных платиновых макрои и микроэлектродов
7.7K Views
08:31
Подготовка образцов и экспериментальный дизайн для экспериментов по облучению на основе многолучевой просвечивающей электронной микроскопии in situ
1.7K Views
08:31
Подготовка образцов и экспериментальный дизайн для экспериментов по облучению на основе многолучевой просвечивающей электронной микроскопии in situ
1.7K Views
07:10
3D-реконструкция профиля глубины сегрегированных примесей с помощью масс-спектрометрии вторичных ионов
1.6K Views
11:03
Наноразмерная характеристика интерфейсов жидкость-твердое вещество путем сопряжения криофокусированного ионного пучка фрезерования со сканирующей электронной микроскопией и спектроскопией
3.4K Views
Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены