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扫描电子显微镜 (SEM)

Overview

资料来源: 实验室的博士安德鲁 J.Steckl — — 辛辛那提大学

扫描电子显微镜、 或扫描电镜,是强大的显微镜用电子来形成图像。它允许在不能使用传统的显微镜的放大倍数的导电样品的成像。现代光学显微镜可以实现一个放大的 ~ 1,000 X,而典型的扫描电镜可以达到放大超过 30,000 X。扫描电镜不用于创建图像的光,因为它形成造成的照片是在黑色和白色。

导电样品放在扫描电镜的样品阶段。一旦样品室达到真空,用户将着手将电子枪对齐到正确的位置系统中。电子枪射出一束高能电子,传播通过透镜和光圈的组合,最终达到样品。由于电子枪继续拍摄电子在样品上的精确位置,二次电子将弹跳的样品。这些二次电子探测器由标识。发现从二次电子信号被放大,并发送到监视器,创建 3D 图像。这个视频会显示扫描电镜样品制备、 操作和成像能力。

Principles

通过加热电子枪,哪像阴极产生电子。这些电子被推进向阳极,样品,强电场的方向相同。束电子浓缩后,它进入物镜,校准到由用户在样品上的固定位置。(图 1)

一旦电子罢工导电样品,两件事情可以发生。第一,打样品的主要电子将隧道通过它的深度是依赖这些电子的能量水平。然后,中学和背散射电子将打样品和从它向外反映。这些反映电子是然后测量通过二次电子 (SE) 或背散射探测器 (BS)。在信号处理过程后,样本的图像在屏幕上形成。1

在 SE 模式下,二次电子受到积极偏见的探测器上由于其低能量。信号强度不同样品的角度。因此,SE 模式提供高度地形图像。另一方面,在 BS 模式中,电子转移的方向是几乎直接对面的电子光束方向和检测强度是样品的原子数成正比。因此,它是那么地形,但有用的成分图像。BS 模式也是受样品,有利于非导电样品收费影响较小。1

Figure 1
图 1。SEM 的示意图

Procedure

1.样品的制备

  1. 地方样品到样品存根 (stub)。如有必要,碳磁带可能用于粘合剂粘接样品到存根 (stub)。
  2. 将样品放入黄金溅射系统。使用淘金热的小规模溅射,溅射金子为 30 米/秒 ~ 70 mTorr 压力。不同的金层厚度可能有必要根据样品的几何。更粗糙或多孔表面需要再溅射时间。
  3. 从黄金溅射系统删除存根 (stub)。

2.样品插入和扫描电镜启动

  1. 发泄在扫描电镜室,允许会议厅,以达到额定压力。
  2. 打开扫描电镜的样品室,拿出样品阶段。
  3. 插入示例存根 (stub) 包含样本上了舞台。拧紧到位的存根 (stub)。
  4. 如果 z 距离不能控制的软件,请确保样品阶段与示例存根 (stub) 具有适当的高度,以获得更好的形象。
  5. 放入样品室样品阶段。关闭样品室。
  6. 打开泵,使系统能够达到真空。这完成时,系统将通知用户。
  7. 打开扫描电镜软件。选择所需操作电压从 1 — — 30 千伏。高工作电压给出更好的图像对比度,但可以产生较低的分辨率,如果样品中积累了收费。

3.捕获扫描电镜图像

  1. 在扫描电镜软件开始 ' 自动对焦,通过点击的钥匙图标。这将会获得样品要用作起始点的重点的的形象。
  2. 请确保缩放比例设置为 50 X 最小缩放级别。
  3. 选择快速扫描模式。
  4. 调整粗模式关注的焦点,直到获得一个粗糙的焦点。
  5. 调整阶段手动使用外部旋钮,使该地区的利益是可见在显示器上。
  6. 增加放大倍数,直到观察到所需的功能。调整的粗的聚焦旋钮,大致集中在此放大图像。然后,改善使用精细的聚焦旋钮要聚焦的图像所需的放大级别的重点。每增加放大级别,将重复此步骤。
  7. 一旦达到所需的缩放比例,调整好的聚焦旋钮来提高清晰度。
  8. 若要优化图像的清晰度,提高放大倍数接近最高的水平,然后集中使用细焦点旋钮的形象。如果不能获得清晰的图像,调整 stigmation 的 x 和 y 方向。保持调整的重点和 stigmations,直到夸张的放大级别获得的最清晰的图像。
  9. 到达后样品的质量形象,追溯到所需的缩放级别。图像可以采取按照片按钮 '慢照片' 或 '快速照片' 模式。更好的质量和高分辨率的图像,给出了 '慢照片' 模式。

4.制作用扫描电镜软件测量

  1. 在面板下拉列表中,选择 M.工具。
  2. 直接扫描电镜软件测量各种测量长度,面积,角度等。要执行这些测量之一,请单击 M.工具窗口中的所需图标。
  3. 滚动到上的扫描电镜图像的测量站点。测量是通过点击图像以创建将由软件分析的参考点。测量数据点可以直接插入图像,如果用户所需。
  4. 图像然后保存到计算机。

Results

扫描电镜,见于图 2a,已被用于进行测量和采集样品照片。样本的氯化钠 (NaCl) 盐。然后几个纳米的黄金被溅射到它,使其导电,它被放置存根 (stub) 如图 2b所示。导电样品然后放入扫描电镜样品区,如图 2c所示。

扫描电镜图像被索取 50 X、 200 X、 500 X、 1,000 X 和 5000 X 放大层如图 3所示。图 3a在 50 X 放大显示盐样品鸟瞰视图。图 3b然后放大到一个单独的盐粒子在 200 X 放大倍率。图 3 c显示此相同的放大级别,但包括在扫描电镜软件内的面积和直径测量。图 3d然后放大到 500 X,在盐粒子上显示感兴趣的领域。图 3e显示一个放大的 1,000 X,使自己观察已损坏的盐粒子的角。图 3 楼显示一个放大的 5,000 X,这样就允许用户查看的盐粒子的结构。

Figure 2
图 2。(a) 图像扫描 (b) NaCl 盐放置样品存根 (stub) 与碳纤维的胶带。(c) 样品存根 (stub) 放入扫描电镜样品阶段,带有金涂层处理后。

Figure 3
图 3。扫描电镜图像的各级放大样品: (a) 50 X,(b) 200 X,(c) 与测量 200 X,(d) 500 X,(e) 1,000 X,和 (f) 5,000 X。

Application and Summary

扫描电镜是一个非常强大的工具,是常见的大多数研究机构由于其能力的形象是导电的或已处理的导电涂料的任何对象。扫描电镜已用于图像对象,例如半导体器件,2生物膜、34除其他外的昆虫。我们也有使用扫描电镜分析纳米纤维和纸质材料、 生物材料、 制备结构。当然,有的材料,如液体,那不能放入标准的扫描电镜成像,但持续发展的环境扫描电子显微镜 (环境扫描电镜) 允许此类功能。环境扫描电镜是类似于扫描电镜,它使用电子枪,分析了电子相互作用与样品。主要的区别是,环境扫描电镜分裂成两个独立的分庭。顶分庭由电子枪和进入高真空状态,而低分庭包含样品和进入高压状态。因为样本区域不需要进入真空,湿或生物样品可以在成像过程中使用。环境扫描电镜的另一个好处是样品不需要涂上导电材料。然而,环境扫描电镜在样品室中有一些缺点的低对比度和小工作距离气态环境。.一般的经验法则是,如果你能够大衣一份样品和一层导电层,然后它可以成像扫描电镜,让几乎所有的固体对象进行分析。

References

  1. Goldstein, J., Newbury, D., Joy, D., Lyman, C., Echlin, P., Lifshin, E., Sawyer, L., Michael, J. Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis. 3rd Ed. Springer, New York, NY. (2003).
  2. Purandare, S., Gomez, E.F., Steckl, A.J. High brightness phosphorescent organic light emitting diodes on transparent and flexible cellulose films. Nanotechnology. 25, 094012 (2014).
  3. Masuda, Y., Yamanaka, N., Ishikawa, A., Kataoka, M., Aral, T., Wakamatsu, K., Kuwahara, N., Nagahama, K., Ichikawa, K., Shimizu, A. Glomerular basement membrane injuries in IgA nephropathy evaluated by double immunostaining for a5(IV) and a2(IV) chains of type IV collagen and low-vacuum scanning electron microscopy. Clinical and Experimental Nephrology. 1-9. (2014).
  4. Kang, J.H., Lee, Y.J., Oh, B.K., Lee, S.K. Hyun, B.R. Lee, B.W, Choi, Y.G., Nam, K.S., Lim, J.D. Microstructure of the water spider (Argyroneta aquatic) using the scanning electron microscope Journal of Asia-Pacific Biodiversity. 7 484-488 (2014).

Disclosures

No conflicts of interest declared.

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Overview

1:49

Principles of Scanning Electron Microscopy

4:10

Sample Preparation and Loading

5:54

SEM Operation

8:22

Image Analysis

9:17

Applications

11:13

Summary

此集合中的视频:

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Now Playing

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