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In diesem Artikel

  • Zusammenfassung
  • Zusammenfassung
  • Einleitung
  • Protokoll
  • Repräsentative Ergebnisse
  • Diskussion
  • Offenlegungen
  • Danksagungen
  • Materialien
  • Referenzen
  • Nachdrucke und Genehmigungen

Zusammenfassung

Dieses Protokoll beschreibt die Anwendung der Rasterkraftmikroskopie und der nanoskaligen Infrarotspektroskopie zur Bewertung der Leistungsfähigkeit der photothermischen nanoskaligen Infrarotspektroskopie bei der Charakterisierung dreidimensionaler multipolymerer Proben.

Zusammenfassung

Mehrphasige polymere Systeme umfassen lokale Domänen mit Abmessungen, die von einigen zehn Nanometern bis zu mehreren Mikrometern variieren können. Ihre Zusammensetzung wird üblicherweise mit Hilfe der Infrarotspektroskopie beurteilt, die einen durchschnittlichen Fingerabdruck der verschiedenen Materialien liefert, die in dem untersuchten Volumen enthalten sind. Dieser Ansatz bietet jedoch keine Details über die Anordnung der Phasen im Material. Grenzflächenbereiche zwischen zwei polymeren Phasen, oft im Nanobereich, sind ebenfalls schwer zugänglich. Die photothermische nanoskalige Infrarotspektroskopie überwacht die lokale Reaktion von Materialien, die durch Infrarotlicht angeregt werden, mit der empfindlichen Sonde eines Rasterkraftmikroskops (AFM). Während sich die Technik für die Untersuchung kleiner Merkmale, wie z. B. einzelner Proteine auf makellosen Goldoberflächen, eignet, ist die Charakterisierung von dreidimensionalen Mehrkomponentenmaterialien schwieriger zu fassen. Dies ist auf ein relativ großes Materialvolumen zurückzuführen, das einer photothermischen Ausdehnung unterliegt, die durch die Laserfokussierung auf die Probe und durch die thermischen Eigenschaften der polymeren Bestandteile definiert wird, verglichen mit dem nanoskaligen Bereich, der von der AFM-Spitze untersucht wird. Unter Verwendung eines Polystyrol (PS)-Kügelchens und eines Polyvinylalkohol (PVA)-Films bewerten wir den räumlichen Fußabdruck der photothermischen nanoskaligen Infrarotspektroskopie für die Oberflächenanalyse in Abhängigkeit von der Position von PS in der PVA-Schicht. Der Einfluss der Merkmalsposition auf die nanoskaligen Infrarotbilder wird untersucht und Spektren aufgenommen. Es werden einige Perspektiven auf die zukünftigen Fortschritte auf dem Gebiet der photothermischen nanoskaligen Infrarotspektroskopie unter Berücksichtigung der Charakterisierung komplexer Systeme mit eingebetteten Polymerstrukturen aufgezeigt.

Einleitung

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist unerlässlich geworden, um die Morphologie einer Vielzahl von Proben mit einer Auflösung im Nanobereichabzubilden und zu charakterisieren 1,2,3. Durch die Messung der Durchbiegung eines AFM-Cantilevers, die sich aus der Wechselwirkung der scharfen Spitze mit der Probenoberfläche ergibt, wurden nanoskalige funktionelle Bildgebungsprotokolle für lokale Steifigkeitsmessungen und Spitzen-Proben-Adhäsion entwickelt 4,5. Für die Analyse weicher kondensierter Materie und Polymere sind AFM-....

Protokoll

1. Herstellung von Polyvinylalkohol (PVA)-Lösung

  1. Messen Sie Wasser und PVA-Polymer-Pellets (siehe Materialtabelle), um eine 10-ml-Lösung mit einem PVA-Wasser-Verhältnis von 20 Gew.-% herzustellen.
  2. Erhitzen Sie das Wasser in den Gläsern auf einer auf 100 °C eingestellten Kochplatte.
  3. Geben Sie die PVA-Polymer-Pellets in das erhitzte Wasser. Setzen Sie einen magnetischen Rührstab ein.
  4. Die Hitze auf 80 °C reduzieren und rühren, bis sich das PVA vollständig aufgelöst hat.
  5. Decken Sie die Oberseite der Gläser ab, um eine Kontamination zu vermeiden.
  6. Sobald sie sich vollständig aufgel....

Repräsentative Ergebnisse

PS ((C8H8)n)-Kügelchen wurden auf einem sauberen Si-Substrat (Abbildung 1A) und auf PVA ((CH2CHOH)n) (Abbildung 1B, C) abgeschieden. Aufgrund der schlechten Adhäsion des Kügelchens auf Si konnte für diese Probe keine nanoIR-Bildgebung im Kontaktmodus aufgenommen werden. Stattdessen wurde die goldbeschichtete AFM-Sonde unter Verwendung der optischen Ansicht der Probe auf nanoIR im Kontakt.......

Diskussion

AFM in Kombination mit NanoIR-Spektroskopie kann chemische Informationen im Nanobereich liefern, indem ein Cantilever im Kontaktmodus und eine gepulste, abstimmbare IR-Lichtquelle verwendet werden. Modellsysteme, wie z.B. die Einbettung eines Absorbers mit endlichen Abmessungen in das Volumen eines polymeren Materials, sind wichtig, um das Verständnis der Bildentstehungsmechanismen zu verbessern und die Leistungsfähigkeit des Werkzeugs zu bestimmen. Im Fall der hier vorgestellten PS/PVA-Konfiguration wurde eine Optimie.......

Offenlegungen

Die Autoren haben nichts zu verraten.

Danksagungen

Diese Arbeit wurde von der National Science Foundation unterstützt (NSF CHE-1847830).

....

Materialien

NameCompanyCatalog NumberComments
10|0 2200 Golden Taklon RoundZem
5357-8NM TweezersPelco
Adhesive TabsTed Pella16079
AFM metal specimen disksTed Pella16208
BinocularAmScope
Cantilever for nanoIR measurementsAppNanoFORTGG
Cell culture dishesGreiner bio-one GmbH
Desiccator
Floating optical tableNewportRS 4000
HotplateVWR
Isopropanol 
KimwipesKIMTECH
Magnetic stir bar
Microparticles based on polystyrene size: 5 µmSIGMA-ALDRICH79633
nanoIR2 microscopeBrukerContact mode NanoIR2
Nitrogen TankAirgas
Petri dishesGreiner bio-one GmbH
Polyvinyl AlcoholSIGMA-ALDRICH363170this polymer was only 87%-89% hydrolyzed, which explains the presence of residual C=O at 1730 cm-1
Quantum Cascade LaserDaylight Solutions1550-1800 cm-1 range
Silicon waferMEMC St. Peters#901319343000
Spin coaterOscilla

Referenzen

  1. Dufrêne, Y. F., Viljoen, A., Mignolet, J., Mathelié-Guinlet, M. AFM in cellular and molecular microbiology. Cellular Microbiology. 23 (7), e13324 (2021).
  2. Sharma, A., Rout, C. S. Probe-based techniques for 2D layered materials.

Nachdrucke und Genehmigungen

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