JoVE Journal

Chemistry

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Análise quantitativa do local atômico de defeitos funcionais/pontos em materiais cristalinos por Microanálise Aprimorada por Canalização eletrônica

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07:24 min

May 10th, 2021

May 10th, 2021


0:04

Introduction

0:59

Transmission Electron Microscopy (TEM) Alignment for Beam-Rocking

2:36

Incident Beam Collimation and Pivot Point Setup

3:47

Electron-Channeling Pattern (ECP) Acquisition

4:30

Energy-Dispersive X-Ray Analysis

5:10

Results: Representative ECP and ICP Emission Imaging

6:46

Conclusion

Transcrição

Fornecemos um esboço geral de métodos quantitativos de microanálise para estimar as ocupações do local de impurezas e seus estados químicos, aproveitando fenômenos de canalização eletrônica sob condições de agitação de raios-elétron incidentes, que extraem informações confiáveis de espécies minoritárias, elementos de luz, vagas de oxigênio e outros defeitos point/line/planar.

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