Contact ohmique fabrication utilisant une technique Focused Ion Beam-et caractérisation électrique pour la couche semi-conducteurs Nanostructures
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December 5th, 2015
DOI :
December 5th, 2015
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Chapitres dans cette vidéo
0:05
Title
0:57
Exfoliation of MoSe2 Layer Nanocrystals
2:01
Dispersion of the Layer Nanocrystals onto the Device Template
2:42
Electrode Fabrication by Focused-ion Beam
6:14
Results: Characteristics of Ohmic Contacts
7:33
Conclusion
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