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Ohmico Fabrication contatto con una tecnica Focused Ion Beam-e caratterizzazione elettrica per strato semiconduttore Nanostrutture

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08:12 min

December 5th, 2015

DOI :

10.3791/53200-v

December 5th, 2015


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Ingegneria

Capitoli in questo video

0:05

Title

0:57

Exfoliation of MoSe2 Layer Nanocrystals

2:01

Dispersion of the Layer Nanocrystals onto the Device Template

2:42

Electrode Fabrication by Focused-ion Beam

6:14

Results: Characteristics of Ohmic Contacts

7:33

Conclusion

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