대량 선택 이온 소프트 랜딩에 의해 준비 잘 정의 된 표면의 제자리 SIMS 및 IR 분광법

18.0K Views

10:22 min

June 16th, 2014

DOI :

10.3791/51344-v

June 16th, 2014


더 많은 비디오 탐색

88

이 비디오의 챕터

0:05

Title

2:13

Mounting of COOH-SAM Surfaces on Gold for Soft Landing of Mass-selected Ions

3:07

Soft Landing of Mass-selected Ru(bpy)32+ onto COOH-SAM Surfaces

4:17

Analysis by In Situ TOF-SIMS Before and After Exposure to Reactive Gases

5:59

Analysis by In Situ FT-ICR-SIMS and IRRAS During and After Soft Landing

7:28

Results: Characterization of Organometallic Ions Soft Landed onto COOH-SAMs by In Situ SIMS and IR Spectroscopy

9:39

Conclusion

관련 동영상

article

07:32

Dynamic Electrochemical Measurement of Chloride Ions

11.3K Views

article

09:48

SALVI 및으로 ToF-SIMS에 의해 물에 수화 된 단백질의 제자리의 특성에

8.2K Views

article

07:37

산화 티타늄

9.9K Views

article

09:56

제자리에서 Shewanella oneidensis MR1 Biofilms SALVI 및 ToF 심즈의 특성

8.9K Views

article

09:28

제조 및 급속 한 초 임계 추출 통해 준비 촉매 Aerogels의 테스트

7.2K Views

article

07:30

에 라 골드 나노 입자 합성에 의해 급속 한 Nanoprobe 신호 향상

7.5K Views

article

09:36

원래의 Lithiated 참조 전극: 4 개의 전극 디자인-operando 임피던스 분광학에 대 한

8.6K Views

article

07:55

소프트 x 선 흡수 분광학 및 공명 탄력 x 선 산란을 통해 배터리에 화학의 원소 구분 검색

12.5K Views

article

07:00

축적 및 분석 솔루션을 도금 하는 구리 황산에 있는 구리 이온의

14.7K Views

article

07:53

클러스터 유도 탈착/이온화 질량 분광법에 의한 표면에 대한 복잡한 분자 및 표면의 반응 분석

7.0K Views

JoVE Logo

개인 정보 보호

이용 약관

정책

연구

교육

JoVE 소개

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. 판권 소유