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Preparazione di nanoparticelle per l'analisi ToF-SIMS e XPS

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06:24 min

September 13th, 2020

DOI :

10.3791/61758-v

September 13th, 2020


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Chimica

Capitoli in questo video

0:05

Introduction

0:45

Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition

2:24

Nanoparticle Powder Deposition

3:15

Nanoparticle Suspension Cryofixation

4:06

Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis

5:41

Conclusion

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