AJP wurde durch die EPSRC Soft Nanotechnology Plattform EP/E046215/1 finanziert. Die Neutronenexperimente wurden vom STFC über die Zuweisung der experimentellen Zeit zur Nutzung von OffSpec (RB 1110285) unterstützt.

1. Probenvorbereitung
<ol><li>Reinigen Sie die Siliziumsubstrate, indem Sie 2 in Siliziumwafer legen, die 10 min dick im Sauerstoffplasma sind.</li>
	<li>Spincoat die erste Schicht auf den Substraten<ol>
<li>Filtern Sie das Poly(3,4-ethylenedioxythiophen): Poly(Styrenesulfonat) (PEDOT:PSS) durch einen 0,45 m PTFE-Filter (PALL).</li>
		<li>Verwenden Sie ca. 0,5 ml für jede Probe, um eine PEDOT:PSS-Dünnschicht bei 5.000 U/min-Spinnfür 60 Sek. auf die beiden sauberen Substrate zu drehen.</li>
		<li>Trocknen Sie jedes Substrat 10 min im Ofen bei 70 °C.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Vorbereiten der Mischlösung für die zweite Ebene<ol>
<li>Lösen Sie einige Poly(3-Hexylthiophen-2,5-diyl) (P3HT) in Chlorbenzol in einer Konzentration von 50 mg/ml auf.</li>
		<li>Bereiten Sie eine Lösung von PCBM auch in Chlorbenzol in einer Konzentration von 50 mg/ml vor.</li>
		<li>Mischen Sie die beiden Lösungen in einem Anteil von 1:0.7 P3HT:PCBM.</li>
		<li>Filtern Sie die mischgemischte Lösung durch einen 0,45-mm-PTFE-Filter.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Spincoat zweite Schicht durch Ablagerung von ca. 100 l der P3HT:PCBM-Lösung auf die PEDOT:PSS beschichteten Substrate und dann bei 2.000 U/min für 30 Sek. drehen, um die zweite Schicht zu bilden.</li>
	<li>Eine Probe als Guss und thermisch anneal die andere 1 Stunde bei 150 °C im Ofen lassen. Dies führt zum Wachstum der großen PCBM-Kristallite auf der Dünnschichtoberfläche.</li>
</ol>2. Probencharakterisierung durch Mikroskopie
<ol><li>Optische Mikroskopie<ol>
<li>Nehmen Sie ein optisches Mikroskopiebild beider Proben mit einem 40-Fach-Mikroskopobjektiv auf einem optischen Mikroskop, das im Reflexionsmodus arbeitet und die Bilder mit einer CCD-Kamera aufnimmt.</li>
		<li>Aufzeichnen eines Kalibrierbildes einer Probe bekannter Länge bei derselben Vergrößerung, die für Schritt 2.1.1 verwendet wird</li>
		<li>Berechnen Sie die Pixelgröße in Mikrometern für die Bilder, indem Sie die Anzahl der Pixel für die Stichprobe bekannter Größe bestimmen.</li>
		<li>Verwenden Sie diese kennmleichte Pixelgröße, um die Bilder mit einer leicht verfügbaren Mikroskopie-Software zu kalibrieren. Ein Beispiel für ein kalibriertes optisches Mikroskopiebild ist in Abbildung 1dargestellt.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Atomkraftmikroskopie<ol>
<li>Nehmen Sie ein Atomkraftmikroskop (AFM) Bild der beiden Proben.</li>
		<li>Analysieren Sie die Daten mit einer leicht verfügbaren Scan-Probe-Software, um Linienprofilzahlen zu generieren, wie in Abbildung 1dargestellt.</li>
	</ol>
</li>
</ol>3. SERGIS-Experiment
<ol><li>Wählen Sie eine geeignete Referenzstichprobe aus, um die Referenzpolarisation P0bereitzustellen, mit der die aus der Stichprobe von Zinsdaten erfassten Daten normalisiert werden können.</li>
	<li>Ausrichten der Probe und der Referenzprobe<ol>
<li>Legen Sie alle drei Samples auf eine Positioniertabelle; dies kann über den Neutronenstrahl übersetzt werden, so dass jede Probe nacheinander in den Strahl gelegt werden kann.</li>
		<li>Positionieren Sie die Referenzprobe P0 im Strahl, indem Sie die Stichprobentabelle übersetzen.</li>
		<li>Richten Sie die Referenzprobe P0 mit Standardreflexionsausrichtungsmethoden auf eine Winkelgenauigkeit von <0,005° aus.</li>
		<li>Platzieren Sie die Probe, die von Interesse ist, in den Neutronenstrahl, indem Sie die Probentabelle übersetzen.</li>
		<li>Richten Sie sowohl die Vonsamtaste auf eine Winkelgenauigkeit von <0.005° mit Standard-Reflexionsausrichtungsmethoden aus.</li>
		<li>Wiederholen Sie diesen Ausrichtungsprozess für alle zu messenden Proben.</li>
	</ol></li>
	<li>Optimieren Sie das SERGIS-Instrument so, dass es sich im Echomodus befindet<ol>
<li>Richten Sie das spezielle Off-Specular-Reflektometer OffSpec bei der ISIS Pulsed Neutron and Muon Source (Oxfordshire, UK) ein, um Wellenlängen von 2-14 ° zu erzeugen. Weitere Details zur Nutzung finden Sie hier10.</li>
		<li>Stimmen Sie das Instrument so ab, dass die Gesamtzahl der Neutronenpräzesten in jedem Arm des Instruments ausgeglichen wird, indem Sie den Strom in einem Teil der Führungsfeldanordnung scannen. Dies wird erreicht, indem die Stärke und Neigung der Magnetfelder innerhalb der Kodierungsarme des Instruments festgelegt wird, die durch den Abstand zwischen den HF-Spin-Flippern definiert werden.</li>
	</ol></li>
	<li>Stellen Sie den Winkel der Beweidungsinzidenz ein, indem Sie den Probentisch kippen, sodass der Neutronenstrahl auf die P0-Probe einfällt (für dieses Experiment in einem Winkel von 0,3°).</li>
	<li>Blockieren Sie den direkt übertragenen Neutronenstrahl, um Sättigungsprobleme zu vermeiden.</li>
	<li>Messen der Proben<ol>
<li>Bewegen Sie die Probenübersetzungsstufe so, dass sich die Referenzprobe wieder im Neutronenstrahl befindet, und messen Sie die gestreute Neutronenintensität als Funktion der Position auf einem vertikal ausgerichteten linearen Szintillatordetektor für die Referenzprobe. Messen Sie sowohl Spin-up- als auch Spin-down-Orientierungen, indem Sie die Drehung des Streustrahls unmittelbar vor dem Analysator umdrehen. In der Regel wird dies für einen Zeitraum von etwa 1 Stunde durchgeführt. Dadurch können die Polarisation sowie die streunende Intensität für beide Einstellungen bestimmt werden.</li>
		<li>Übersetzen Sie die Probenstufe, um die erste der Voninteresse erregenden Proben zu messen, und zeichnen Sie erneut sowohl Spin-up- als auch Spin-Down-Orientierungen als Funktion der Position mit einem vertikal ausgerichteten linearen Szintillatordetektor für einen Zeitraum von etwa 1 Stunde auf.</li>
		<li>Wiederholen Sie die Schritte 3.6.1 und 3.6.2, bis ausreichend gute Zählstatistiken für diese Messung vorliegen. In der Regel ist dies etwa 8 Stunden / Probe insgesamt.</li>
		<li>Wiederholen Sie die Schritte 3.6.1-3.6.3 für alle weiteren Zumessungsproben.</li>
	</ol></li>
	<li>Die gesammelten Daten bestehen sowohl aus Spin-up- als auch Spin-down-2D-Intensitätskarten für jede Probe. Berechnen Sie die Polarisation für jedes Pixel in den 2D-Datensätzen mit der Formel <img alt="" height="51" src="/files/ftp_upload/51129/51129_3.7_equation.png" width="103"> wobei P die Polarisation ist und iup und Idown die gemessenen Spin-up- bzw. Spin-Down-Intensitäten sind.</li>
	<li>Normalisieren Sie die Datensätze, die für die von Interesse gewonnenen Proben mithilfe der P 0-Referenzstichprobendaten erfasst wurden, um eine normalisierte Polarisationsintensitätskarte gemäß der Formel zu erzeugen <img alt="" height="49" src="/files/ftp_upload/51129/51129_3.8_equation.png" width="116"> wobei PNormalisiert die ermittelte Polarisation berechnet undP-Probe der Probenpolarisationswert und P0 die Polarisation ist, die mit der P0-Referenzprobe gemessen wird.</li>
	<li>Integrieren Sie die SERGIS-Daten über einen geeigneten Bereich<ol>
<li>Wählen Sie den Bereich(d. h. den Pixelbereich im normalisierten Polarisationsdiagramm) für die SERGIS-Datenintegration aus. Dieser Bereich sollte so gewählt werden, dass das gewünschte SERGIS-Signal nicht durch mögliche Polarisationsinhomogenitäten überschwemmt wird, die auf Unvollkommenheiten in den Feldlinien-Integralen zurückzuführen sind. Der verfügbare Q-Raum, über den das SERGIS-Signal integriert werden kann, ist effektiv auf eine Reihe diskreter Q-Werte bei jeder gegebenen Spin-Echo-Längenkonfiguration beschränkt, wobei Q der Impulsübertragungsvektor ist, d.h. die Änderung des Momentums eines Neutrons nach der Interaktion mit der Probe.</li>
		<li>Reduzieren Sie die 2D-Daten, indem Sie die normalisierte Polarisation integrieren, um die SERGIS-Korrelationsfunktion G(y) zu erhalten, die zuvor5definiert wurde. Streng G(y) sollte über beide Q-Vektoren senkrecht zu y in die Unendlichkeit integriert werden, aus experimentellen Gründen ist der Integrationsbereich jedoch auf die ausgewählte erkannte Intensität über dem Probenhorizont beschränkt.</li>
	</ol></li>
	<li>Kompensieren Sie unterschiedliche Streulängendichten bei unterschiedlichen Wellenlängen, indem Sie die Daten in ähnlicher Weise behandeln, um Echo-Neutronenstreudaten zu spinnen, indem Sie die Daten in der Form darstellen: <img alt="" height="65" src="/files/ftp_upload/51129/51129_3.10_equation.png" width="127"> wobei die Spin-Echo-Länge in nm ist und leicht mit y =2 berechnet werden kann, wobei α eine Konstante ist, die mit kalibrierten Konstanten für das gegebene Instrumentenaufbau bestimmt wird11.</li>
</ol>

<ol>
	<li>Mezei, F. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Neutron+spin+echo:+A+new+concept+in+polarized+thermal+neutron+techniques.">Neutron spin echo: A new concept in polarized thermal neutron techniques.</a> Zeitschriftf&#252;r Physik A Hadrons Nuclei. 255, 146-160 (1972).</li><li>Falus, P., Vorobiev, A., Krist, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Test+of+a+two-dimensional+neutron+spin+analyzer.">Test of a two-dimensional neutron spin analyzer.</a> Physica B Condens. Matter. Mater. Phys. , 385-386 (2006).</li><li>Ashkar, R., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Dynamical+theory+calculations+of+spin-echo+resolved+grazing-incidence+scattering+from+a+diffraction+grating.">Dynamical theory calculations of spin-echo resolved grazing-incidence scattering from a diffraction grating.</a> J. Appl. Crystallogr. 43 (3), 455-465 (2010).</li><li>Ashkar, R., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Dynamical+theory:+Application+to+spin-echo+resolved+grazing+incidence+scattering+from+periodic+structures.">Dynamical theory: Application to spin-echo resolved grazing incidence scattering from periodic structures.</a> J. Appl. Phys. 110 (10), (2011).</li><li>Pynn, R., Ashkar, R., Stonaha, P., Washington, <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A.L.,Some+recent+results+using+spin+echo+resolved+grazing+incidence+scattering.">A.L.,Some recent results using spin echo resolved grazing incidence scattering.</a> SERGIS). hysica B Condens. Matter. Mater. Phys. 406 (12), 2350-2353 (2011).</li><li>Ashkar, R., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Spin-Echo+Resolved+Grazing+Incidence+Scattering+(SERGIS)+at+Pulsed+and+CW+Neutron+Sources.">Spin-Echo Resolved Grazing Incidence Scattering (SERGIS) at Pulsed and CW Neutron Sources.</a> J. Phy. Conf. Ser. 251 (1), (2010).</li><li>Vorobiev, A., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Phase+and+microphase+separation+of+polymer+thin+films+dewetted+from+Silicon-A+spin-echo+resolved+grazing+incidence+neutron+scattering+study.">Phase and microphase separation of polymer thin films dewetted from Silicon-A spin-echo resolved grazing incidence neutron scattering study.</a> J. Phys. Chem. B. 115 (19), 5754-5765 (2011).</li><li>Major, J., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+spin-echo+resolved+grazing+incidence+scattering+setup+for+the+neutron+interrogation+of+buried+nanostructures.">A spin-echo resolved grazing incidence scattering setup for the neutron interrogation of buried nanostructures.</a> Rev. Sci. Instrum. 80 (12), (2009).</li><li>Parnell, A. J., Dalgliesh, R. M., Jones, R. A. L., Dunbar, A. D. F. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=A+neutron+spin+echo+resolved+grazing+incidence+scattering+study+of+crystallites+in+organic+photovoltaic+thin+films.">A neutron spin echo resolved grazing incidence scattering study of crystallites in organic photovoltaic thin films.</a> Appl. Phys. Lett. 102, (2013).</li><li>Dalgliesh, R. M., Langridge, S., Plomp, J., De Haan, V. O., Van Well, A. A. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Offspec,+the+ISIS+spin-echo+reflectometer.+hysica+B+Condens..">Offspec, the ISIS spin-echo reflectometer. hysica B Condens..</a> Matter. Mater. Phys. 406 (12), 2346-2349 (2011).</li><li>Krouglov, T., de Schepper, I. M., Bouwman, W. G., Rekveldt, M. T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Real-space+interpretation+of+spin-echo+small-angle+neutron+scattering.">Real-space interpretation of spin-echo small-angle neutron scattering.</a> J. Appl. Crystallogr. 36, 117-124 (2003).</li><li>Brady, M. A., Su, G. M., Chabinyc, M. L. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Recent+progress+in+the+morphology+of+bulk+heterojunctionphotovoltaics.">Recent progress in the morphology of bulk heterojunctionphotovoltaics.</a> Soft Matter. 7 (23), 11065-11077 (2011).</li><li>Huang, Y. -. C., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Study+of+the+effect+of+annealing+process+on+the+performance+of+P3HT/PCBM+photovoltaic+devices+using+scanning-probe+microscopy..">Study of the effect of annealing process on the performance of P3HT/PCBM photovoltaic devices using scanning-probe microscopy..</a> Solar Energy Mater. Solar Cells. 93 (6-7), 888-892 (2009).</li><li>Parnell, A. J., et al. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/entrez/query.fcgi?db=PubMed&cmd=Search&doptcmdl=Citation&defaultField=Title+Word&term=Depletion+of+PCBM+at+the+Cathode+Interface+in+P3HT/PCBM+Thin+Films+as+Quantified+via+Neutron+Reflectivity+Measurements.">Depletion of PCBM at the Cathode Interface in P3HT/PCBM Thin Films as Quantified via Neutron Reflectivity Measurements.</a> Adv. Mater. 22 (22), 2444-2447 (2010).</li></ol>

Der Autor Robert Dalgliesh ist ein Mitarbeiter des ISIS Pulsed Neutron and Muon Source, der das in diesem Experiment verwendete Instrument beherbergt.

Die Mikroskopiedaten in Abbildung 1 zeigen deutlich, dass vor dem Glühen der P3HT:PCBM Dünnschicht flach und glatt ist und nach dem thermischen Glühen viele große unregelmäßige PCBM-Kristallite auf der Oberfläche mit seitlichen Abmessungen zwischen etwa 1-10 m vorhanden sind. Dies wird auf die PCBM-Migration zur Oberseite des Films und die anschließende Aggregation zu großen Kristalliten zurückgeführt. Ein starkes SERGIS-Signal, das mit der Streuung von PCBM-Kristalliten in der geglühten Prob...

Die SERGIS-Technik zielt darauf ab, einzigartige Strukturelle Informationen zu liefern, die mit anderen Streu- oder Mikroskopietechniken aus Dünnschichtproben nicht zugänglich sind. Mikroskopietechniken sind in der Regel oberflächenbegrenzt oder erfordern erhebliche Änderungen/Probenvorbereitungen, um interne Strukturen anzuzeigen. Herkömmliche Streutechniken wie Reflektivität können detaillierte Informationen über vergrabene Probenstrukturen als Funktion der Tiefe innerhalb des Dünnfilms liefern, können aber die Struktur in der Ebene des Dünnfilms nicht einfach sonden. Letztlich hofft man, dass SERGIS es ermöglicht, diese laterale Struktur auch dann zu untersuchen, wenn sie in der Dünnschichtprobe vergraben ist. Die hier vorgestellten repräsentativen Ergebnisse zeigen, dass es möglich ist, ein SERGIS-Signal anhand unregelmäßiger Probenmerkmale zu beobachten, und dass das gemessene Signal mit einer charakteristischen Längenskala korreliert werden kann, die mit den in der Probe vorhandenen Merkmalen verbunden ist, wie sie durch herkömmliche Mikroskopieverfahren bestätigt wird.
Inelastische Spin-Echo-Techniken wurden von Mezei et al. entwickelt. 1 in den 1970er Jahren. Seitdem wurde die SERGIS-Technik (eine Erweiterung der Ideen von Mezei et al.)experimentell mit einer Vielzahl von Proben wie hochregelmäßigen Beugungsgittern2-6 und kreisförmigen entnetzten Polymertröpfchen7erfolgreich nachgewiesen. Eine dynamische Theorie wurde von Pynn und Kollegen entwickelt, um die starke Streuung aus sehr regelmäßigen Proben3-6,8zu modellieren. Diese Arbeit hat viele praktische Aspekte hervorgehoben, die bei der Durchführung dieser Art von Messungen zu berücksichtigen sind, und zu einem ständigen Dialog innerhalb einer kleinen multinationalen Gemeinschaft geführt.
Gute Ergebnisse aus SERGIS-Experimenten werden höchstwahrscheinlich erzielt, wenn die zu messende Probe aus einem dünnen Film auf einem flachen Substrat besteht und Streueigenschaften mit einer hohen Dichte von mittelgroßen Merkmalen (30 nm bis 5 m) enthält, die Neutronen stark streuen, wie die Autoren9zeigen. Im Gegensatz zu anderen etablierten Reflektivitätstechniken, die die Probe als Funktion der Tiefe untersuchen, hat die SERGIS-Technik den Vorteil, dass sie Strukturen in der Ebene der Probenoberfläche sonden kann. Darüber hinaus entfällt durch die Verwendung von Spin-Echo die Anforderung, den Neutronenstrahl fest zu kollimieren, um entweder eine hohe Räumliche oder energiebefreie Auflösung zu erhalten, so dass signifikante Flussgewinne erzielt werden können. Dies ist besonders relevant für Weideinzidenzgeometrien, die aufgrund der Notwendigkeit, den Strahl stark in eine Richtung zu kollimieren, deutlich flussbegrenzt sind. Mit dem OffSpec-Instrument sollte es daher möglich sein, Längenskalen von 30 nm bis 5 m sowohl in Schütt- als auch in Oberflächenstrukturen zu sonden.

<table border="0" cellpadding="0" cellspacing="0" width="605">
	<tbody>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Silicon 2 in silicon substrates</td>
			<td style="width:103px;">Prolog</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td style="width:167px;">4 mm thick polished one side</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Oxygen plasma</td>
			<td style="width:103px;">Diener</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Oxygen plasma cleaning system to clean substrates prior to coating</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Poly(3,4-ethylenedioxythiophene): poly(styrenesulfonate)</td>
			<td style="width:103px;">Ossila</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>PEDOT:PSS conductive polymer layer for organic photovoltaic samples</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">0.45 &#956;m PTFE filter</td>
			<td style="width:103px;">Sigma Aldrich</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Filer to remove aggregates from PEDOT:PSS and P3HT solutions</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Chlorobenzene</td>
			<td style="width:103px;">Sigma Aldrich</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Solvent for P3HT</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl)</td>
			<td style="width:103px;">Ossila</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>P3HT - polymer used in polymer photovoltaics</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Spin Coater</td>
			<td style="width:103px;">Laurell</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Deposition system for making flat thin polymer films</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Vacuum Oven</td>
			<td style="width:103px;">Binder</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Oven fro annealing samples after preparation</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Nikon Eclipse E600 optical microscope</td>
			<td style="width:103px;">Nikon</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Microscope</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Veeco Dimension 3100 AFM</td>
			<td style="width:103px;">Veeco</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>AFM</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">Tapping mode tips (~275 kHz)</td>
			<td style="width:103px;">Olympus</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>AFM tips</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Quartz Disc</td>
			<td style="width:103px;"></td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>Refrence samples for SERGIS measurement</td>
		</tr>
		<tr height="42">
			<td height="42" style="height:42px;width:216px;">Spin Echo off-specular reflectometer</td>
			<td colspan="2">OffSpec at the ISIS Pulsed Neutron and Muon Source (Oxfordshire, UK)</td>
			<td>Produces pulsed neutrons 2-14 &#197;</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Neutron Detector</td>
			<td style="width:103px;">Offspec</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td>vertically oriented linear scintillator detector</td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;">RF spin flippers</td>
			<td style="width:103px;">Offspec</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Magnetic Field Guides</td>
			<td style="width:103px;">Offspec</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td></td>
		</tr>
		<tr height="21">
			<td height="21" style="height:21px;width:216px;">Data Manipulation Software</td>
			<td style="width:103px;">Mantid</td>
			<td style="width:119px;"></td>
			<td><a href="http://www.mantidproject.org/Main_Page">http://www.mantidproject.org/Main_Page</a></td>
		</tr>
	</tbody>
</table>

using neutron spin echo resolved grazing incidence scattering to investigate organic solar cell materials

Die SERGIS-Technik (Spin Echo Resolved Grazing Incidence Scattering) wurde verwendet, um die Längenskalen zu untersuchen, die mit unregelmäßig geformten Kristalliten verbunden sind. Neutronen werden durch zwei gut definierte Magnetfeldbereiche geleitet; eine vor und eine nach der Probe. Die beiden Magnetfeldregionen haben eine entgegengesetzte Polarität und sind so abgestimmt, dass Neutronen, die durch beide Regionen reisen, ohne gestört zu werden, die gleiche Anzahl von Präzesses in entgegengesetzten Richtungen durchlaufen werden. In diesem Fall soll die Neutronenpräzession im zweiten Arm den ersten "echo" haben, und die ursprüngliche Polarisation des Strahls bleibt erhalten. Wenn das Neutron mit einer Probe interagiert und elastisch streut, ist der Pfad durch den zweiten Arm nicht derselbe wie der erste und die ursprüngliche Polarisation wird nicht wiederhergestellt. Die Depolarisation des Neutronenstrahls ist eine hochempfindliche Sonde in sehr kleinen Winkeln (<50'rad), ermöglicht aber dennoch den Einsatz eines hochintensiven, divergierenden Strahls. Die Verringerung der Polarisation des Strahls, der von der Probe im Vergleich zu der der Referenzstichprobe reflektiert wird, kann direkt mit der Struktur innerhalb der Probe zusammenhängen.
Im Vergleich zur streuungsbeobachteten Streuung, die bei Neutronenreflexionsmessungen beobachtet wird, sind die SERGIS-Signale oft schwach und werden wahrscheinlich nicht beobachtet, wenn die In-Ebenen-Strukturen innerhalb der untersuchten Probe verdünnt, ungeordnet, klein und polydisperse oder der Neutronenstreukontrast gering ist. Daher werden mit der SERGIS-Technik höchstwahrscheinlich gute Ergebnisse erzielt, wenn die zu messende Probe aus dünnen Folien auf einem flachen Substrat besteht und Streueigenschaften enthält, die eine hohe Dichte von mittelgroßen Merkmalen (30 nm bis 5 m) enthalten, die Neutronen stark streuen oder die Merkmale auf einem Gitter angeordnet sind. Ein Vorteil der SERGIS-Technik ist, dass sie Strukturen in der Ebene der Probe sonden kann.

Die repräsentativen Ergebnisse aus Proben von [6,6]-Phenyl-C61-Buttersäuremethylester (PCBM) und Poly(3-Hexylthiophen-2,5-diyl) (P3HT) sind von erheblichem Interesse wegen ihrer weit verbreiteten Anwendung als Bulk-Hetero-Junction-Materialien in organischen Photovoltaikzellen12,13. Typischerweise wird bei der Herstellung eines organischen Photovoltaikgeräts eine P3HT:PCBM-Mischlösung aus einer Mischlösung zu einem dünnschichtigen Aufguss auf einem Poly(3,4-ethylenedioxythiophen):p oly(styrenesulfonat) (P...

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Using Neutron Spin Echo Resolved Grazing Incidence Scattering to Investigate Organic Solar Cell Materials

Es wurden Fortschritte bei der Verwendung von Spin-Echo-aufgelösten Weideinzidenzstreuung (SERGIS) als Neutronenstreuungstechnik zur Untersuchung der Längenskalen in unregelmäßigen Proben erzielt. Crystallite von [6,6]-Phenyl-C61-Buttersäuremethylester wurden mit der SERGIS-Technik untersucht und die Ergebnisse durch optische und atomare Kraftmikroskopie bestätigt.

Mit Neutron Spin Echo Gelöste Grazing Incidence Scattering zur Untersuchung organischer Solarzellenmaterialien

The spin echo resolved grazing incidence scattering (SERGIS) technique has been used to probe the length-scales associated with irregularly shaped ...

using-neutron-spin-echo-resolved-grazing-incidence-scattering-to

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