Preparación de muestras mediante fresado por haz de iones focalizado correlativo en 3D para tomografía crioelectrónica de alta resolución

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October 25th, 2021

DOI :

10.3791/62886-v

October 25th, 2021


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0:04

Introduction

0:36

Cryo-Fluorescence Light Microscopy (Cryo-FLM) of Plunge‐Frozen Grids with Cells

1:51

Focused Ion Beam (FIB) Milling

5:47

Correlative Transmission Electron Microscopy (TEM)

7:02

Results: Visualizing the Endocytic Protein Deposit in the Cell with Cryo‐ET

7:38

Conclusion

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