Oturum Aç

Sample Preparation by 3D-Correlative Focused Ion Beam Milling for High-Resolution Cryo-Electron Tomography

3.0K Views

08:20 min

October 25th, 2021

DOI :

10.3791/62886-v

October 25th, 2021

2,970 Views

Transkript

Daha Fazla Video Keşfet

3D correlative FIB Milling
JoVE Logo

Gizlilik

Kullanım Şartları

İlkeler

Araştırma

Eğitim

JoVE Hakkında

Telif Hakkı © 2020 MyJove Corporation. Tüm hakları saklıdır