הדמיה היפרספקטראלית ככלי לחקר Anisotropy אופטי ב לנתניד מבוססי גבישים בודדים מולקולריים

Summary

כאן, אנו מציגים פרוטוקול כדי לקבל הדמיה היפרספקטראלית נתונים ולנתח את תכונות anisotropy אופטי של קריסטלים בודדים מבוססי לנתניד באמצעות מערכת הדמיה Hyperקטרלית.

Abstract

בעבודה זו, אנו מתארים פרוטוקול עבור יישום הרומן של הדמיה היפראספקטקטרלית (HSI) בניתוח של לנתניד זורח (בתוך^{3 +}) מבוססי גבישים בודדים מולקולריים. כדוגמה מייצגת, בחרנו גביש בודד של הטרודינאורור בקומפלקס מבוסס Ln [TbEu (bpm) (t,)₆] (bpm = 2, 2 '-bipyrimidine, tmetro^– = 1, 1, 1-trifluoroacetylacetonate) מציג פליטה גלויים לעין תחת עירור UV. HSI היא טכניקה המתעוררים המשלבת הדמיה מרחבית דו-ממדית של מבנה זורח עם מידע ספקטרלי מכל פיקסל של התמונה שהושג. במיוחד, HSI על גבישים בודדים של הקומפלקס [Tb-Eu] סיפק מידע ספקטרלי מקומי הגילוי וריאציה של עוצמת האור בנקודות שונות לאורך הקריסטלים למדו. שינויים אלה יוחסו אנאיזוטרופיה אופטית בגביש, אשר נובעת מאריזת מולקולרית שונה של בתוך^{3 +} יונים בכל אחד הכיוונים של מבנה הגביש. ה-HSI המתואר במסמך זה הוא דוגמה להתאמת הטכניקה לחקירות מרחביות של חומרים מולקולריים. עם זאת, הדבר החשוב ביותר, ניתן להאריך בקלות את הפרוטוקול לסוגים אחרים של חומרים מורחבים (כגון קריסטלים מולקולריים בגודל מיקרון, מיקרוחלקיקים אורגניים, חלקיקי חלקיקים ברקמות ביולוגיות, או תאים מתויג, בין היתר), פתיחת אפשרויות רבות לחקירה עמוקה יותר של קשרי מבנה-רכוש. בסופו של דבר, חקירות כאלה יספקו ידע להיות ממונפת להנדסה של חומרים מתקדמים למגוון רחב של יישומים מביודמיה ליישומים טכנולוגיים, כגון מדריכי גל או מכשירי אלקטרואופטיקה.

Introduction

הדמיה היפרספקטראלית (HSI) היא טכניקה היוצרת מפה מרחבית שבה כל קואורדינטת x-y מכילה מידע ספקטרלי שיכול להתבסס על כל סוג של ספקטרוסקופיה, כלומר photoluminescence הקליטה ופיזור הספקטרוסקוסים^1,2,3. כתוצאה מכך, ערכה 3-מימדי של נתונים (המכונה גם "קוביית hyperקטרמית") מושגת, שם קואורדינטות x-y הם הצירים המרחבית ואת קואורדינטת z הוא מידע ספקטרלי מתוך המדגם ניתח. לכן, הקוביה היפרספקטלית מכילה מידע מרחבי וספקטרלי, המספקת חקירה ספקטרוסקופית מפורטת יותר של המדגם מאשר ספקטרוסקופיה מסורתית. בעוד hsi כבר ידוע במשך שנים בתחום חישה מרחוק (למשל, גיאולוגיה, תעשיות מזון⁴), זה לאחרונה יצא כטכניקה חדשנית לאפיון ננו^2,5 או רגשים עבור יישומים ביו^3,6,7,8. באופן כללי, הוא אינו מוגבל לתחום UV/גלוי/ליד אינפרא אדום (ניר), אך ניתן גם להאריך באמצעות מקורות קרינה אחרים, כגון קרני רנטגן – למשל כדי לאפיין התפלגות היסודות בחומרים שונים⁹ – או Terahertz קרינה, שבו hsi שימש לבצע חישה תרמית ברקמות ביולוגיות⁸. יתר על כן, מיפוי פוטולומיניסנציה כבר בשילוב עם מיפוי ראמאן לחקור את המאפיינים האופטיים של מונאולייר MoS₂¹⁰. עם זאת, בין היישומים המדווחים של hsi אופטי, יש עדיין רק כמה דוגמאות על hsi של חומרים מבוססי לנתניד^{11,12,13,14,15,16,17}. למשל, אנחנו יכולים לצטט: זיהוי של סרטן ברקמות⁶, ניתוח עומק החדירה אור ברקמות ביולוגיות⁷, הדמיה ביולוגית ריבוב³, ניתוח של העברת אנרגיה רחבי במערכות היברידית¹¹, וחקירת שינויים המושרה מצבור במאפייני ספקטרוסקופיים של upconverting חלקיקים¹². ברור, האטרקטיביות של HSI נובע מההתאמה שלה ליצירת ידע על הסביבה ספציפית, המספקת מידע מרחבי וספקטרלי בו זמנית על הגשוש.

ניצול של טכניקה זו רבת עוצמה אנו מתארים בזאת פרוטוקול לחקור anisotropy אופטי של הטרודינאונקה Tb^{3 +}-Eu^{3 +} גביש יחיד [tbeu (bpm) (t,)₆] (איור 1a)¹³. Anisotropy אופטי נצפתה התוצאה של אריזה מולקולרית שונים של ב^{3 +} יונים בכיוונים פגמים בגבישים שונים (איור 1b), וכתוצאה מכך כמה פרצופים גביש מראה בהיר יותר, אחרים מראים עמעם פוטולומינטסנס. הוצע כי עוצמת האור המוגבר מוגברת בפרצופים ספציפיים של הגביש היה מתואם עם העברת אנרגיה יעילה יותר לאורך הכיוונים הפגמים בגבישים האלה שם בתוך^{3 +}· · · ב^{3 +} מרחקים יון היו הקצרה ביותר¹³.

מונעים על ידי תוצאות אלה, אנו מציעים את הקמתה של מתודולוגיה מפורטת כדי לנתח anisotropy אופטי דרך hsi, פתיחת הנתיב להבנה טובה יותר של העברת האנרגיה של יון-יון תהליכים מטונטים הנובע הסדר המולקולרי הספציפי^18,19. מבנה זה קשרים מאפיינים זוהו כהיבטים חשובים עבור עיצוב חדשני חומרים אופטיים כולל, אך לא מוגבל גל מערכות מכשירים והתקני האחסון opto-מגנטיים בננו ומיקרוסקאלה – מטפל בביקוש למערכות אופטיות יותר יעיל ומיניאטורי²⁰.

Protocol

התראה: מומלץ להשתמש במשקפי בטיחות ספציפיים לאורך הגל המשמש בכל עת בעת הפעלת הimager.

1. קביעת תצורה של מיקרוסקופ היפרספקטקטרלי

הערה: מבט כולל על מערכת ההדמיה היפראספקטקטרלית באיור 2a, עם המרכיבים העיקריים של האימגר המתואר. ניתן להשתמש במערכת הדימות לאיתור הפליטה הגלויה או הכמעט-אינפרא-אדום (ניר) ממדגם. בהתאם לזיהוי הרצוי (גלוי או ניר), האור עובר בין שני נתיבי אור שונים (איור 2e). שילוב של קוביות קרן שונות מפנה וקוביות דיקרואיק filter (קוביות אופטיות) חייב להיות ממוקם במיקומים ספציפיים במכשיר כדי לבחור את הנתיב המתאים.

1. הפעלה של המחשב המחובר למערכת ההדמיה. הפעל את צג המחשב.
2. קבעו את תצורת הקוביה האופטית המתאימה (איור 2ב', ג).
   הערה: כאן, התצורה של צמידה (תצורת קוביה אופטית) עבור מיפוי hsi באמצעות עירור UV וזיהוי פליטה גלוי מתואר. עם זאת, ניתן גם לשנות אותו לעירור הניר ולזיהוי פליטת ניר, בהתאם למדגם. עיין בסעיף ' תוצאות הנציגים ' עבור דוגמה.
   1. החל משלב המיקרוסקופ (1 באיור 2a) ולאחר מסלול קרן הפליטה לכיוון גלאי (3 באיור 2a), לעזוב את המיקום הראשון עבור קוביה אופטית (4 באיור 2a) פנוי ומקום את הקוביה האופטית מיקרוסקופ אופטי (DFM1-P01) בעמדה שצוין 5 באיור 2a, כך הפליטה מן המדגם מכוונת דרך הנתיב אור גלוי.
   2. במבט לאורך הנתיב האופטי לכיוון הגלאי, מניחים את הקוביה האופטית הגלויה (CM1-P01), המכילה את המראה הדיקרואיק ואת המסננים כדי להפנות את הפליטה הגלויה לנתיבי האיתור, במיקום שצוין כ-6 באיור 2b.
   3. המשך הנתיב לכיוון הגלאי, מניחים את הקוביה האופטית המכונה (DFM1-P01) במיקום שצוין כ -7 באיור 2b כדי לכוון את האור דרך הנתיב הנראה לזיהוי אור. לאחר מכן, בעקבות הנתיב, מניחים את הקובייה האופטית של ספקטרומטר הקשר (DFM1-P01) במיקום 8 באיור 2 ג כך שהאור הנפלט מגיע לגלאי.
   4. עבור מיפוי hsi, לשלוט באופן ידני את הגלאי משסף (9 באיור 2 ג) כדי להתאים את גודל החורים הנמצאים בשימוש (סביב 50 mm הוא אופטימלי).
   5. בתוכנה Physpec , בחר את הפתח של החור (5 באיור 3).
      הערה: ככל שצמצם החורים קטן יותר, כך ייטב הרזולוציה של HSI, בעלות עוצמת האות.
3. הפעל את מנורת הפס הרחב (איור 2d, הזחה) על-ידי מיקום המתג (10 באיור 2d) לתנוחת on. כדי לשלוט על עוצמת האור עירור, להפוך את כפתור המצוין על ידי 11 (איור 2d) לגבוה יותר (32-העוצמה הנמוכה ביותר) או ערכים נמוכים יותר (1-ברמה הגבוהה ביותר). שמרו על תריס מנורה בפס רחב (12 באיור 2d) סגור במהלך הגדרת.
   הערה: הערכים הגבוהים יותר מתאימים להנחתה גבוהה יותר של צפיפות החשמל הנפלטת מהמנורה, ואילו ערכים נמוכים יותר מתאימים להנחתה נמוכה יותר.
4. הפעל את החומרה הבאה בסדר הנתון להלן על-ידי הגדרת הבוררים שלהם למצב ' מופעל ':
   1. . הפעל את בקר התנועה של ת'ורבlabs
   2. הפעל את מקור הכוח של ניקון.
   3. הפעל את בקר ה-ASI.
   4. הפעל את בקר Galvo.
   5. . הפעל את גלאי הproem
   6. . הפעל את מזהה הבמפרט
5. במחשב, לפתוח את התוכנה Physpec ידי לחיצה כפולה על הסמל שלה.
   1. הקש על מקש F8 במקלדת כדי לאתחל את מערכת IMA upconversion מרה ולחץ על לחצן אישור בהתחברות לחלון מערכת .
      הערה: שלב 1.5.1. ניתן גם לבצע על ידי לחיצה על הכרטיסייה מערכת ולאחר מכן לחיצה על התחבר כדי להגיע לחלון להתחבר למערכת . לאחר מכן, ניתן ללחוץ על לחצן אישור כדי לחבר את מערכת הדימות לתוכנה.
   2. ודא שכל התפריטים מופיעים בממשק (מצלמה צבעונית, proem ו- bayspec) וכן בלוח הבקרה של המכשיר, בצד השמאלי של המסך, כפי שמוצג באיור 3.

2. הדמיה היפרספקטראלית של [TbEu) (t,)₆] גביש יחיד

1. על מנת להכין את הדגימה, הניחו את הגביש על מגלשת זכוכית מיקרוסקופית. במקרה זה צריך להשתמש בהגדלה גבוהה יותר, לכסות את הגביש עם זכוכית כיסוי דק ולאבטח אותו עם הקלטת, כך ניתן למקם את המדגם עם זכוכית כיסוי דק פונה לכיוון העדשה האובייקטיבית.
2. הניחו את שקופית הזכוכית שעליה היתה המדגם על במת המיקרוסקופ והכינו אותה באמצעות זרועות המתכת (איור 4א, ב).
3. הזיזו את המדגם באמצעות מוט ההיגוי (איור 4c) של בקר אסי , כדי למקם את המדגם על היעדים הנמצאים בשימוש.
4. באופן ידני למקם את קוביית המסנן הימני בגלגל מתחת ליעדים (3 באיור 5) כדי לבחור את הריגוש UV של המנורה ולתת להעביר את הפליטה הנראה לכיוון הגלאי.
   הערה: קוביות סינון נוספות זמינות לשימוש בעירור אור ירוק או כחול, ולכן לאחר שקוביית הסינון הנכונה במקום חשובה לאורך הגל המתאים.
5. מיקום ידני של המטרה 20X (המצוין על ידי 5 באיור 5) תחת לדוגמה ולחץ על הכפתור הלבן (6 באיור 5) בצד שמאל של המיקרוסקופ כדי להדליק את האור הלבן.
   1. כוונן את הבהירות על-ידי הפעלת הלחצן מתחת למתג ההפעלה האור הלבן (7 באיור 5).
6. בתוכנת Physpec , לחץ על לחצן הפעל (וידאו) בחלון מצלמת הצבע, אשר יגרום לרכישת סריקה חיה.
   1. אם חלון מצלמת הצבע מציג תמונה שחורה, הגדל את זמן החשיפה (2 באיור 3) ו/או את ערך הרווח (3 באיור 3) שנמצא בלוח הבקרה של המכשיר, תחת הכרטיסייה מצלמה צבעונית . אם התמונה המוצגת היא בהירה מדי, הפחת את זמן החשיפה ו/או את ערך הרווח.
   2. ודא את כפתור קדימה בצד ימין של המיקרוסקופ (2 באיור 5) מוגדר R כדי לשלוח 20% מהאות למצלמה/משקפת ו 80% של האות לגלאי.
7. התמקד במדגם על ידי התאמת המרחק בין המטרה לבין השלב (איור 4b). הדבר נעשה על ידי הפיכת הידיות המוצגות באיור 4d בצד ימין של המיקרוסקופ.
   הערה: הכפתור הגדול משמש להתאמות גסות, בעוד שהכפתור הקטן יותר מיועד לשינויים עדינים וקטנים יותר.
8. ודא שהמטרה שנבחרה באופן ידני נבחרה גם היא בתוכנה. תחילה, לחץ על לחצן תצוגה בשורת התפריטים העליונה ולאחר מכן לחץ על תצוגה אחת/הסתר סרגל סרגל כדי להציג את סרגל קנה המידה בתמונה (1 באיור 3). לאחר מכן, עבור אל הכרטיסיה גלוונומטר בלוח הבקרה של ההוראה ובחר את המטרה המשמשת (4 באיור 3). ודא שסרגל קנה המידה המוצג נכון על-ידי בחירת המטרה המתאימה בתוכנה.
9. בתוכנה, בחר את הגלאי המתאים על ידי הולך לסטות הלשונית (proem – 6 באיור 3) ו להגרגים על ידי הולך למסנן tab (1200 gr/mm במקרה של proem – 7 באיור 3) תחת הכרטיסייה spectrapro SP-2300 .
10. פתח את תריס מנורה בפס רחב (12 באיור 2) כדי לאפשר את עירור UV של המדגם להתרחש. הפעל את כפתור האינטנסיביות (11 באיור 2d) למיקום הרצוי (למשל, 8-בינוני עוצמה) כדי לשלוט על עוצמת מנורת הפס הרחב (UV) עירור.
    1. כדי לבחור בין תאורה שטח רחב (פתח פתוח) או תאורה נקודה קטנה יותר (צמצם סגור יותר), לשלוט בגודל של הצמצם שדה UV המנורה באמצעות מקל וידיות המוצג 4 באיור 5.
11. תחת הכרטיסייה Spectrapro SP-2300 , בחר אורך גל כדי להתבונן בפליטת המדגם.
12. אם אורכי גל הפליטה של המדגם אינם ידועים, יש לרכוש ספקטרום פליטה.
    1. ברצף, לחץ על סימן + כדי להוסיף רצף חדש ("הצומת") לרכישת ספקטרום פליטה.
       1. לחץ על ספקטרומטר ולאחר מכן לרכישת ספקטרום (עם סריקה ספקטרלי).
       2. קלט אורך גל מינימלי (כלומר, 400 nm) ואורך גל מרבי (כלומר, 700 nm) ולחץ על אישור כדי לקבוע את הטווח הספקטרלי שבו הספקטרום יירשם.
       3. בחר את זמן החשיפה המתאים בתפריט הצד השמאלי של התוכנה. בחר את המועדים הקצרים ביותר (לדוגמה, 0.1 s) לדגימות בהירות ושעות נוספות (לדוגמה, 2 s) לפולטים מדים.
       4. להתאים את כוח עירור במקרה של מנורת פס רחב (UV) עירור (ראה שלב 1.3 לעיל).
          הערה: במקרה של עירור הדיודה של ניר, ניתן לכוונן אותו מהתפריט הנפתח ' דחיסות נייטרלית ' בצידו השמאלי של תוכנת Physpec .
    2. ברצף, לחץ על כפתור לשחק כפול כדי להריץ את כל הרצף. לאחר שהספקטרום מוצג, שים לב לאזורי העניין לאיתור הפליטה לדוגמה (לדוגמה 580 ל-640 ננומטר במקרה של שחפת^{3 +}-והאיחוד האירופי^{3 +}מדגמים מבוססי).
    3. בהתאם לצורך, מטב את זיהוי האותות על-ידי שינוי המיקוד של המדגם או על-ידי התאמת זמן החשיפה בתוכנת physpec . השג אופטימיזציה נוספת של זיהוי אותות באמצעות הגדלת עוצמת פליטת המדגם על ידי שינוי העוצמה של מקור עירור (מנורה בפס רחב), כפי שמתואר לעיל.
13. להתאים את זמן חשיפה (למשל, 0.5 s – 2 באיור 3) ולהרוויח (3 באיור 3) של המצלמה צבע בהתאם, כדי לקבל תמונה באיכות טובה. במקרה הצורך, הוסיפו את סרגל הסרגל לתמונה על-ידי לחיצה על הלחצן הצג/הסתר סרגל שורה בשורה השניה של התפריט בחלק העליון של חלון התוכנה physpec .
14. המלצה: לפני שרכשה את הקובייה ההיפר ספקטקטרלית, הקלט תמונת מיקרוסקופ אופטי שדה בהיר של הגביש תחת אור לבן (איור 6a) ו/או uv מלא (איור 6a) או מוגבל (איור 6A) תאורה (תאורה uv נשלט על ידי צמצם תריס, המוצג 4 באיור 5). כדי לעשות זאת, עם המדגם בפוקוס, לחץ על לחצן ההפעלה של מצלמת הצבע.
15. לחץ על הקובץ ולאחר מכן לייצא תצוגת חלון, בחר את התבנית הרצויה כדי לייצא את התמונה המתקבלת, ולשמור את הקובץ עם הסיומת הרצויה (. h5,. JPEG).
16. לפני שרכשו את הדימוי היפראקטרלי, כבו את תאורת האור הלבנה, כמו גם את אור החדר.
17. , כדי להשיג את הקובייה היפראספקטראלית. כתוב רצף חדש לכן, ברצף, לחץ על סימן + כדי להוסיף צומת חדש.
    1. לחץ על confocal וקד האנגר.
       1. לחץ על רכישת ספקטרום רב. כאן, שדה התצוגה הרצוי מוגדר על-ידי מספר הנקודות שיש לרכוש בכיוונים x ו- y ובגודל השלב. לדוגמה, להשתמש 100 נקודות ב x ו 100 נקודות y עם גודל 5 יקרומטר צעד כדי לקבל תמונה של 500 על ידי 500 יקרומטר.
          הערה: המספר הכולל של נקודות רכישה וזמן השילוב בכל נקודה ישפיעו ישירות על זמן הרכישה הכולל של הקוביה היפרספקטראלית.
          1. הקלט את מיקום X הרצוי (למשל, 100) ו Y מיקום (למשל, 100) ספירות, כמו גם את גודל הצעד הרצוי (למשל, 5 μm). בחרו באפשרות החומרה לסנכרון המצלמה, למיפוי הפליטה הגלוי (ולאפשרות ' תוכנה ' במקרה של זיהוי ניר). לחץ על אישור.
18. ברצף, לחץ על הקו החדש שנוספו ספקטרום הרכישה כדי להדגיש את הצומת.
19. לחץ על לחצן ההפעלה כדי להפעיל את הצומת שנבחר.
    הערה: הזמן הנותר לקבלת הרכישה יופיע ליד הצומת (בדקות, לדוגמה, 28 דקות).
20. לאחר השלמת הרכישה, שמור את הקוביה היפרספקטראלית בתבנית הקובץ המתאימה (. h5).

3. ניתוח נתונים היפרקטרלי

1. מיד לאחר הרכישה, אם קוביית hyperספקטרלית שנשמרה אינה נפתחת באופן אוטומטי בתוכנה, לשחזר את הקוביה היפרספקטקטרלית, אשר נשמרה בתור קובץ. h5, על ידי לחיצה על הקובץ בשורת התפריטים העליונה ולאחר מכן ריחוף הסמן ולחץ בקובץ פתוח. .. כאשר החלון שכותרתו בחירת נתונים כדי לפתוח pop up, בחר את התיקיה שבה קובץ ה-. h5 נשמר ולחץ פעמיים על ה
2. לאחר הקובץ קוביית היפרספקטקטרלית, לשנות את התמונה המוצגת היפרספקטקטרלית כדי להראות את העוצמה של אורך גל ספקטרלי מסוים על ידי הזזת הסרגל על החלק העליון של התמונה הקוביה בצד שמאל (אורך הגל התחתון, למשל , 580 nm) או ימינה (גל גבוה יותר, למשל, 638 nm)
   הערה: אורך הגל הנבחר מוצג בצד שמאל של הפס העליון (1 באיור 7).
3. לאחר בחירת אורך הגל של עניין לניתוח (למשל, העוצמה המקסימלית, אשר במקרה של [TbEu (bpm) (t,)₆] הוא 613.26 ננומטר), לעשות אחד (או הכל) של שלושה סוגים אפשריים של ניתוח ספקטרלי: (א) התפלגות ספקטרלית בצורת תמונה (2 באיור 7); (ב) פרופיל עוצמת פליטה על פני אזור מעניין (3 באיור 7); (ג) הוצאת ספקטרום בנקודה מסוימת או באזור מעניין (4 באיור 7).
   1. במקרה של התפלגות ספקטרלית מתמונה, השתמש בפונקציה חתוך ו-Bin כדי להגדיל את היחס בין האות לרעש בתמונה. על מנת לעשות זאת, לחץ בתוך עיבוד התפריט העליון ולאחר מכן בחר נתונים ולאחר מכן את היבולהאופציה Bin.
   2. עבור פרופיל עוצמה פליטה, על תמונת הקוביה, לחץ לחיצה ימנית ובחר את הפרופיל צור יעד או צור X או ליצור פרופיל Y בהתאם לנקודה אחת בלבד (יעד-5 ו-6 באיור 7) או קו (פרופיל-7 ו-8 באיור 7) יש לנתח. בחר באזור הניתוח על-ידי גרירת היעד, הפרופיל האופקי או הקו האנכי עם הסמן והזיזו לאורך הקוביה.
      1. לאחר שהפרופיל נבחר כראוי, לחץ לחיצה ימנית על האזור ובחר את הוספת יעד לגרף. בחרה באפשרות ליצור גרף חדש כדי להציג את עוצמת הפליטה (צירy ) כפונקציה של המיקום הפיזי של היעד (צירx ). הספקטרום יופיע על הגרף החדש שהוכנס (6 ו -7 באיור 7).
         הערה: ניתן ליצור מטרות מרובות, ואלה יופיעו כפרופילי פליטה בצבעים שונים (5 ו-6 באיור 7).
   3. לחילופין, השג ספקטרום פליטה של אזור מסוים במדגם (9 באיור 7). כדי להתחיל עם, לרחף את הסמן מעל תמונת הקוביה ולחץ לחיצה ימנית. לחץ על האפשרויות בחירה במלבן או בחירת אליפסה בכרטיסיה הקופצת.
      1. ציירו את צורת הבחירה (לדוגמה, מלבן) על האזור הרצוי על-ידי לחיצה וגרירה של הסמן על-פני הקוביה. לאחר שהאזור נבחר כראוי, לחץ לחיצה ימנית על האזור ובחר באפשרות הוסף בחירה לגרף.
      2. בחלון המופיע הוסף לגרף, בחרו ' צור גרף חדש ' כדי להציג את ספקטרום הפליטה של היעד ולחצו על ' אשר'.
         הערה: קו בצבע חדש (8 באיור 7) יופיע על הגרף שבו מוצג פליטת היעד, עם עוצמת הפליטה כציר y ואורך הגל בציר ה-x. ספקטרום זה תואם את עוצמת הממוצע של האזור שנבחר עבור כל אורך הגל.
4. לאחר השגת הספקטרום, שמור אותו לפני בחירת אזור חדש מאחר שניתן לבחור רק אזור אחד בכל פעם. לשם כך, בחר בחלון שמכיל את הגרף. בתפריט קובץ , בחר שמירה בשם ובחר לשמור את הגרף בתיקיית הבחירה, באמצעות שם הבחירה, או בתבנית. h5, שניתן לפתוח בתוכנת physpec או בתבנית. csv, שניתן לייבאו ב-Excel.

תוצאות

כדי להמחיש את התצורה של מיקרוסקופ hyperקטרלי עבור רכישת נתונים על מבוססי בגביש בודד, מולקולרי (כלומר, [TbEu (bpm) (t,)₆], איור 1a), איור 2 מראה סקירה של המערכת, כמו גם את המיקום הנכון של קוביות אופטיות בכיוונון. איור 3 מראה צילום מסך של התוכנה physpec המ?...

Discussion

פרוטוקול הדימות היפראספקטקטרלי כאן מתאר גישה ישירה המאפשרת להשיג מידע ספקטרוסקופי במיקומים מדויקים של המדגם. באמצעות ההתקנה המתוארת, הרזולוציה המרחבית (x ו- y מיפוי) יכול להגיע עד 0.5 יקרומטר בעוד הרזולוציה ספקטרלי יכול להיות של 0.2 nm עבור המיפוי בטווח הגלוי ו 0.6 nm עבור הטווח ניר.

Materials

Name	Company	Catalog Number	Comments
Microscope glass slides	FisherBrand	12-550-15	Glass slides used for sample preparation
Visible and Near Infrared Hyperspectral Confocal Imager	PhotonETC		Microscope used for the analysis, builted according to the user needs, therefore it is no catalog number