JoVE Logo

로그인

C 프로빙

11.7K Views

13:58 min

September 28th, 2016

DOI :

10.3791/54235-v

September 28th, 2016


더 많은 비디오 탐색

115

이 비디오의 챕터

0:05

Title

1:21

Fabrication of Hexagonal-closed-packaged (HCP) Overlayer of C84 in Si Substrate

2:57

Measurements of Electronic Properties of C84-embedded Si Substrate

5:07

Measurements of Surface Magnetism

6:17

Measurements of Nanomechanical Properties by AFM

6:49

Measurement of Nanomechanical Properties by Molecular Dynamics Simulation

11:05

Results: Characterization of C84-embedded Silicon Substrate by Nanomeasurements and Molecular Dynamic Simulation

12:46

Conclusion

관련 동영상

article

10:53

스캐닝 프로브 단일 전자 용량 분광학

13.0K Views

article

09:48

원자 힘 분광학에 의해 단일 ​​분자 접착 조사

10.3K Views

article

11:00

손 3D 가상 현실 인터페이스와 스캐닝 프로브 현미경을 통해 단일 분자의 조작을 제어

9.0K Views

article

09:52

구조와 원자 힘 현미경 이미징 사용 하 여 Nucleosomes의 역학 조사

11.6K Views

article

07:15

에 대한 소설 방법

9.1K Views

article

11:33

모든 전자 나노초 해결 주사 터널링 현미경: 촉진 단일 불순물 충전 역학 조사

9.5K Views

article

12:58

적외선 나노 스펙트로펙트 및 원자력 현미경으로 개별 단백질 응집체 특성화

9.7K Views

article

08:31

하이브리드 원자력 현미경 -스캐닝 전기 화학 현미경 (AFM-SECM)을 사용하여 나노 물질의 표면 전기 화학 활성을 조사

6.8K Views

article

08:18

용액과 표면 화학의 조합을 통해 합성된 다공성 nanographenes의 현미경 시각화

1.6K Views

article

08:18

용액과 표면 화학의 조합을 통해 합성된 다공성 nanographenes의 현미경 시각화

1.6K Views

JoVE Logo

개인 정보 보호

이용 약관

정책

연구

교육

JoVE 소개

Copyright © 2025 MyJoVE Corporation. 판권 소유