시간 해결 된 극저온 전자 현미경 검사법을 위한 빠른 그리드 준비

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November 6th, 2021

DOI :

10.3791/62199-v

November 6th, 2021


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0:10

Introduction

0:43

Preparing the System

4:34

Fast Grid Preparation

7:12

Time-Resolved Cryo-EM

8:46

Representative Results

9:34

Conclusion

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