JoVE Logo

Войдите в систему

Атомного зонда томографии Исследования по Cu (In, Ga) Se

12.7K Views

09:51 min

April 22nd, 2013

DOI :

10.3791/50376-v

April 22nd, 2013


Транскрипт

Смотреть дополнительные видео

Atom Probe Tomography

Главы в этом видео

0:05

Title

2:29

Sample Fabrication for Atom Probe Tomography Analysis

5:43

Atom Probe Tomography Analysis in a CAMECA LEAP 3000X HR System

6:31

Reconstruction of Atom Probe Tomography Data

7:13

Results: Elemental Maps and Concentration Depth Profiles of a Grain Boundary

8:38

Conclusion

Похожие видео

article

09:26

В Ситу Время-зависимой пробой диэлектрика в просвечивающий электронный микроскоп: возможность понять механизм Отказ в микроэлектронных устройств

8.7K Views

article

11:42

Изготовление ворот-перестраиваемых графена устройств для сканирующей туннельной микроскопии исследований с кулоновских примесей

15.4K Views

article

07:50

Электрон Ченнелинг Контрастность изображений для быстрого III-V гетероэпитаксиального Характеристика

11.0K Views

article

08:12

Токопроводящее Изготовление, используя технику сфокусированного ионного пучка и характеристик для Электрические слоя полупроводниковых наноструктур

12.2K Views

article

11:14

Исчерпывающая характеристика протяженных дефектов в полупроводниковых материалах на растровом электронном микроскопе

13.7K Views

article

07:15

Новый метод для

9.1K Views

article

08:14

Атом зонд томографии Анализ раскрытых минеральных фаз

7.1K Views

article

08:58

Обработка металлов нанокристаллических сыпучих исследовательской лаборатории армии США

9.4K Views

article

06:57

Теоретический расчет и экспериментальная проверка уменьшения дислокаций в эпитаксиальных слоях германия с полуцилиндрическими пустотами на кремнии

2.1K Views

article

14:21

Выполнение газовых реакций in situ с закрытыми ячейками в просвечиваемом электронном микроскопе

3.9K Views

JoVE Logo

Исследования

Образование

О JoVE

Авторские права © 2025 MyJoVE Corporation. Все права защищены