단일 입자 극저온 전자 현미경 검사법을 위한 사용자 친화적이고 높은 처리량 및 완전 자동화된 데이터 수집 소프트웨어

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July 29th, 2021

DOI :

10.3791/62832-v

July 29th, 2021


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이 비디오의 챕터

0:04

Introduction

0:40

Data Acquisition with Latitude-S

3:34

Fine Alignment

4:20

Data Acquisition Procedure

5:36

Results: Automated Data Acquisition Using Latitude-S for Single-Particle Cryo-Electron Microscopy

7:31

Conclusion

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